高低溫試驗(yàn)箱分高溫區(qū)、低溫區(qū)、測(cè)試區(qū)三部分,測(cè)試樣品放置測(cè)試區(qū)靜止,采用蓄熱結(jié)構(gòu),強(qiáng)制冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入測(cè)試區(qū),完成高低溫沖擊測(cè)試,既可作冷熱沖擊箱使用又可作單獨(dú)高溫箱或單獨(dú)低溫箱使用;超大視窗玻璃設(shè)計(jì),各方面觀察視角,中空鍍電熱膜防結(jié)露設(shè)計(jì),內(nèi)置照明燈,運(yùn)行狀態(tài)一目了然;采用7寸LCD顯示熒屏微電腦控制系統(tǒng),操作簡(jiǎn)單易懂;板式冷熱交換器與二元式超低溫冷凍系統(tǒng);具有RS-232通訊接口,可連接電腦遠(yuǎn)程操作,使用便捷;可設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能,執(zhí)行冷人沖擊條件時(shí),可選擇2槽或3槽之功能,并具有高低溫試驗(yàn)機(jī)的功能;可在預(yù)約開(kāi)機(jī)時(shí)間運(yùn)轉(zhuǎn)中自動(dòng)提前預(yù)冷、預(yù)熱、待機(jī)功能;可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù),自動(dòng)(手動(dòng))除霜。
本產(chǎn)品用于電子電器零組件。自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車(chē)配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè),國(guó)防工業(yè)、PCB基板、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化,測(cè)試氣材料對(duì)高、低溫反復(fù)低拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理變化,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從準(zhǔn)確的IC到重機(jī)械的組件,都會(huì)用到是各領(lǐng)域?qū)Ξa(chǎn)品測(cè)試的不可少的一項(xiàng)測(cè)試試驗(yàn)箱。
該試驗(yàn)箱是一款于測(cè)試工業(yè)產(chǎn)品在高、低溫交變的環(huán)境下的可靠性試驗(yàn)設(shè)備。是對(duì)電子電工、汽車(chē)摩托、船舶兵器、高等院校、科研單位等內(nèi)相關(guān)產(chǎn)品的零部件及其材料在高、低溫(交變)循環(huán)變化的情況下,檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。
在選擇使用時(shí),我們應(yīng)當(dāng)看重技術(shù)參數(shù),而其中的溫度范圍、均勻度、波動(dòng)度、升溫速率和降溫速率這幾項(xiàng)是決定高低溫試驗(yàn)箱能否達(dá)到我們實(shí)驗(yàn)?zāi)康乃枰臈l件。這四大要素中占主要地位的則是均勻度,因?yàn)榫鶆蚨冗^(guò)大的問(wèn)題會(huì)在我們的試驗(yàn)過(guò)程中經(jīng)常出現(xiàn),所以要特別注意這項(xiàng)參數(shù);而能造成均勻度不一的原因又有哪些呢?
1、試驗(yàn)箱內(nèi)的箱體密封性不好,如大門(mén)漏氣,從而影響設(shè)備工作室的溫度均勻。
2、如果在進(jìn)行試驗(yàn)箱內(nèi)的溫度偏差檢測(cè)時(shí),有要求工作室內(nèi)放置試品的,需要按照要求擺放試品,當(dāng)試品體積過(guò)大,或放置的方式、位置不當(dāng)時(shí),使得空氣對(duì)流受阻,也有可能會(huì)導(dǎo)致較大的溫度偏差。
3、由于箱壁的熱傳導(dǎo),進(jìn)而產(chǎn)生高溫箱漏熱或低溫箱漏冷等情況而造成一定的損失,為了補(bǔ)償這個(gè)損失必然會(huì)有送風(fēng)溫差,高溫箱的送風(fēng)溫度高于箱內(nèi)工作溫度,低溫箱的送風(fēng)溫度則低于箱內(nèi)工作溫度。由于必然存在的送風(fēng)溫差使工作室內(nèi)產(chǎn)生了溫度不均勻。
4、設(shè)備的結(jié)構(gòu)在很大程度上會(huì)影響工作中間溫度均勻。由于結(jié)構(gòu)難以*對(duì)稱,從而對(duì)溫度均勻造成不利影響。
要想比較容易獲得左右溫度均勻,需要將高低溫試驗(yàn)箱的結(jié)構(gòu)改為大門(mén)在前,空調(diào)室在箱后部,上送風(fēng)下回風(fēng)。