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詳細(xì)摘要： 圖片簡(jiǎn)介SE500橢偏儀是一種利用光的偏振態(tài)變化來進(jìn)行薄膜性質(zhì)表征的儀器，主要用來測(cè)量薄膜材料的厚度、NK參數(shù)等性質(zhì)
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市更新時(shí)間：2024-05-26 在線留言
詳細(xì)摘要： 圖片簡(jiǎn)介Suragus面阻測(cè)試儀來自德國，其通過渦流的原理測(cè)量材料面阻值，該技術(shù)是一種非接觸式面阻測(cè)試技術(shù)且測(cè)試準(zhǔn)確穩(wěn)定，對(duì)于無損檢測(cè)、在線監(jiān)測(cè)具有重要意義
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詳細(xì)摘要： 圖片簡(jiǎn)介Suragus面阻測(cè)試儀來自德國，其通過渦流的原理測(cè)量材料面阻值，該技術(shù)是一種非接觸式面阻測(cè)試技術(shù)且測(cè)試準(zhǔn)確穩(wěn)定，對(duì)于無損檢測(cè)、在線面阻監(jiān)測(cè)具有重要意義
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詳細(xì)摘要： 圖片 簡(jiǎn)介 SR系列薄膜分析產(chǎn)品來自美國AST公司，其可以實(shí)現(xiàn)薄膜厚度、反射率、透射率、色度等的測(cè)量，同樣對(duì)于材料NK參數(shù)也可以實(shí)現(xiàn)測(cè)量，為人們針對(duì)薄膜進(jìn)行...
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詳細(xì)摘要： 圖片簡(jiǎn)介我司不僅僅為客戶提供實(shí)驗(yàn)使用、科研需求的薄膜檢測(cè)、分析儀器，同時(shí)也為廣大工業(yè)用戶提供在線檢測(cè)的系統(tǒng)方案
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詳細(xì)摘要： 圖片簡(jiǎn)介SE300橢偏儀是一種利用光的偏振態(tài)變化來進(jìn)行薄膜性質(zhì)表征的儀器，主要用來測(cè)量薄膜材料的厚度、NK參數(shù)等性質(zhì)
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詳細(xì)摘要： 圖片簡(jiǎn)介橢偏儀——SE200BA-M300橢偏儀是一種利用光的偏振態(tài)變化來進(jìn)行薄膜性質(zhì)表征的儀器，主要用來測(cè)量薄膜材料的厚度、NK參數(shù)等性質(zhì)
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詳細(xì)摘要： 圖片簡(jiǎn)介Suragus面阻測(cè)試儀來自德國，其通過渦流的原理測(cè)量材料面阻值，該技術(shù)是一種非接觸式面阻測(cè)試技術(shù)且測(cè)試準(zhǔn)確穩(wěn)定，對(duì)于無損檢測(cè)、在線監(jiān)測(cè)具有重要意義
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詳細(xì)摘要： 圖片簡(jiǎn)介Suragus面阻測(cè)試儀來自德國，其通過渦流的原理測(cè)量材料面阻值，該技術(shù)是一種非接觸式面阻測(cè)試技術(shù)且測(cè)試準(zhǔn)確穩(wěn)定，對(duì)于無損檢測(cè)、在線監(jiān)測(cè)具有重要意義
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市更新時(shí)間：2024-05-26 在線留言
詳細(xì)摘要： 圖片簡(jiǎn)介SR系列薄膜分析產(chǎn)品來自美國AST公司，其可以實(shí)現(xiàn)薄膜厚度、反射率、透射率、色度等的測(cè)量，同樣對(duì)于材料NK參數(shù)也可以實(shí)現(xiàn)測(cè)量，為人們針對(duì)薄膜進(jìn)行分析提供...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市更新時(shí)間：2024-05-25 在線留言
詳細(xì)摘要： 圖片 簡(jiǎn)介 SR系列薄膜分析產(chǎn)品來自美國AST公司，其可以實(shí)現(xiàn)薄膜厚度、反射率、透射率、色度等的測(cè)量，同樣對(duì)于材料NK參數(shù)也可以實(shí)現(xiàn)測(cè)量，為人們針對(duì)薄膜進(jìn)行...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市更新時(shí)間：2024-05-25 在線留言
詳細(xì)摘要： 圖片 簡(jiǎn)介 MSP系列薄膜分析產(chǎn)品來自美國AST公司，其可以實(shí)現(xiàn)微小區(qū)域薄膜厚度、反射率、透射率、色度等的測(cè)量，同樣對(duì)于材料NK參數(shù)也可以實(shí)現(xiàn)測(cè)量，為人們針...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市更新時(shí)間：2024-05-25 在線留言
詳細(xì)摘要： 圖片 簡(jiǎn)介 MSP系列薄膜分析產(chǎn)品來自美國AST公司，其可以實(shí)現(xiàn)微小區(qū)域薄膜厚度、反射率、透射率、色度等的測(cè)量，同樣對(duì)于材料NK參數(shù)也可以實(shí)現(xiàn)測(cè)量，為人們針...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市更新時(shí)間：2024-05-25 在線留言
詳細(xì)摘要： 圖片 簡(jiǎn)介 MSP系列薄膜分析產(chǎn)品來自美國AST公司，其可以實(shí)現(xiàn)微小區(qū)域薄膜厚度、反射率、透射率、色度等的測(cè)量，同樣對(duì)于材料NK參數(shù)也可以實(shí)現(xiàn)測(cè)量，為人們針...
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