詳細摘要: 簡要描述: 使用顯微光譜法在微小區(qū)域內(nèi)通過反射率進行測量,可進行高精度膜厚度 光學常數(shù)分析。 可通過非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度,例如各種膜、晶片、光學材...
產(chǎn)品型號:所在地:深圳市更新時間:2023-07-04 在線留言通信電纜 網(wǎng)絡設備 無線通信 云計算|大數(shù)據(jù) 顯示設備 存儲設備 網(wǎng)絡輔助設備 信號傳輸處理 多媒體設備 廣播系統(tǒng) 智慧城市管理系統(tǒng) 其它智慧基建產(chǎn)品