儀器介紹

TEJDCS2853D介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀是根據(jù)GB/T 1409《測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(zhǎng)在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》（等效采用IEC 60250）設(shè)計(jì)和制造的，并符合JB 7770等試驗(yàn)方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測(cè)試。

絕緣材料高頻介質(zhì)損耗測(cè)試裝置能對(duì)絕緣材料進(jìn)行高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)的測(cè)試。它符合國(guó)標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

TEJDCS-2853D介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀是一種基于串聯(lián)諧振原理工作的50kHz～160MHz高頻阻抗測(cè)量?jī)x器，對(duì)電感器，電容器，絕緣材料等進(jìn)行高頻的有效電感，Q值，電容值和ε，tanδ及高頻電纜特性阻抗和衰減系數(shù)的測(cè)量

1 特點(diǎn)：

◎ 本公司創(chuàng)新的自動(dòng)Q值讀取技術(shù)，使測(cè)Q精度和速度大大提高。

◎ Q值四位有效顯示，0.1Q分辨率。

◎ 調(diào)諧回路殘余電感8nH，保證高頻時(shí)直讀Q值的誤差較小。

◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù)：Q值，測(cè)試頻率，調(diào)諧狀態(tài)等。

◎ Q值量程自動(dòng)/手動(dòng)量程控制。

◎ 數(shù)字化Q值預(yù)置，能提高批量測(cè)試的可靠性和速度。

◎ 獨(dú)立50kHz～160MHz信號(hào)源輸出口，所以本機(jī)又是一臺(tái)160MHz的合成信號(hào)源，頻率準(zhǔn)確度±50ppm，穩(wěn)定度±10ppm。

2 主要技術(shù)指標(biāo)：

2.1 工作頻率范圍：
  50kHz～160MHz，五位有效數(shù)顯。

2.2 Q值測(cè)量范圍：
  1～1000；分1～30，10～100，30～300，100～1000 四檔。分辨率0.1Q.

2.3 Q值固有誤差：
  ±5%±3% 滿刻度值。

2.4 有效電感測(cè)量范圍：
  0.02μH～200mH。

2.5 電感測(cè)量誤差：
  ≤3%±0.01μH

2.6 調(diào)諧電容特性：

2.6.1可調(diào)電容范圍：
  13pF～220 pF。

2.6.2 精確度：
  ±1% 或0.5pF。

2.6.3 電容量測(cè)量范圍：
  1pF～200pF。

2.6.4 電容測(cè)量誤差：
  ±1%±0.5pF。

2.6.5 殘余電感值：
  約8nH。

2.7 Q預(yù)置功能：
2.7.1Q預(yù)置范圍：
  5～999均可。被測(cè)件達(dá)到預(yù)置值后有“GO"顯示和蜂鳴聲提示。不合格件則顯示“NO GO"。

2.8 外形尺寸及重量：
  415×180×170（mm）,7kg。