儀器簡介
Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技術(shù)，擁有15°、90°與173°三個(gè)散射角度，突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測量的局限性，硬件PALS技術(shù)解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的準(zhǔn)確測量，是目前市場上功能大的粒度與Zeta電位分析儀。
散射技術(shù)（Back-Scattering）引入高濃度粒度分析的廠家，Brookhaven公司應(yīng)用全新的光纖技術(shù)將背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)進(jìn)行了結(jié)合，突破性地推出了結(jié)合15°、90°與173°三個(gè)散射角度與硬件PALS（相位分析光散射）技術(shù)的Omni多角度粒與高靈敏度Zeta電位分析儀。隨著Omni的出現(xiàn)，突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測量的局限性，實(shí)現(xiàn)在同一臺(tái)粒度分析儀中，既可以同時(shí)兼顧大、小顆粒的散射光信號(hào)，又可以有效地提高了測量濃度上限，可達(dá)40%wt；硬件PALS技術(shù)（與傳統(tǒng)基于頻移技術(shù)的光散射方法相比，靈敏度可提高1000倍）的應(yīng)用，解決了長期以來無法對諸如在低介電常數(shù)、高粘度、高鹽度以及等電點(diǎn)附近這些測量條件下（電泳遷移率比通常水相條件下低10－1000倍，傳統(tǒng)方法沒有足夠的分辨率進(jìn)行測量）的樣品進(jìn)行分析的難題。Omni是目前市場上功能大的粒度與Zeta電位分析儀。
技術(shù)參數(shù)
1.粒度測量范圍：0.3nm～10μm
2.Zeta電位測量適用粒度范圍：1nm～100μm
3.樣品濃度范圍：0.1ppm至40%w/v(與顆粒大小和折射率有關(guān))
4.典型精度：1％
5.樣品類型：蛋白、納米粒子、聚合物及分散于水或其他溶劑中的膠體樣品
6.樣品體積：1～3ml 7.分子量測定范圍：342～2×107Dalton
8.Zeta電位范圍：-500mV～500mV 9.電導(dǎo)率范圍：0～30S/m
10.電泳遷移率范圍：10-11 ～ 10-7 m2 /V.s 11.電場強(qiáng)度：0 ～ 60 kV/m
12.電極：性開放式電極，電極材料純鈀；耐腐蝕電極（選件）；微量電極（選件）
13.溫控范圍與精度：-5℃～110℃，±0.1℃。 14.pH測量范圍：1-14
15.激光源：35mW光泵半導(dǎo)體激光器（可選5mW He-Ne激光器）
16.檢測器：高靈敏雪崩型二極管（APD）
17.相關(guān)器：4×522個(gè)物理通道，4×1011個(gè)線性通道，采用動(dòng)態(tài)采樣時(shí)間及動(dòng)態(tài)延遲時(shí)間分配
18.自動(dòng)趨勢分析：對時(shí)間、溫度及其他參數(shù)
19.散射角：15°、90°與173°
20.室溫操作情況：10°C ～ 75°C，濕度 0% ～95%, 無冷凝
21.大小及重量：233mm (H) x 427 mm (W) x 481 mm (D)，15 kg
22.電源：100/115/220/240 VAC, 50/60 Hz, 300 W
23.計(jì)算機(jī)（選件）：商用計(jì)算機(jī)，包括WindowTM軟件
24.自動(dòng)滴定儀（選件）：獨(dú)立四泵驅(qū)動(dòng)，可對pH值、電導(dǎo)率和添加劑濃度作圖
型號(hào)對照表
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