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涂層測(cè)厚儀

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱北京華海恒輝科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號(hào)
  • 所  在  地北京市
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時(shí)間2024/12/1 10:32:29
  • 訪問次數(shù)42
產(chǎn)品標(biāo)簽:

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北京華海恒輝科技有限公司(簡(jiǎn)稱“北京華海恒輝”),屬批準(zhǔn)的,中關(guān)村科技園區(qū)認(rèn)定的海淀區(qū)*改造傳統(tǒng)產(chǎn)業(yè)(*制造業(yè))**型企業(yè),是國內(nèi)具有較強(qiáng)影響力的無損檢測(cè)儀器生產(chǎn)型企業(yè)之一,主要從事無損檢測(cè)儀器的技術(shù)研發(fā)、生產(chǎn)制造、市場(chǎng)銷售和全程顧問式服務(wù)。生產(chǎn)的HUD\HUT系列超聲波探傷儀、HECT系列渦流探傷儀、HL系列里氏硬度計(jì)、HT系列超聲波測(cè)厚儀、HS(TT)系列涂層測(cè)厚儀、DCE系列磁粉探傷儀、氧化皮檢測(cè)儀TMT130等具有水平。 北京華海恒輝擁有實(shí)力雄厚的研發(fā)機(jī)構(gòu)和專業(yè)化的營(yíng)銷隊(duì)伍及高效的企業(yè)管理平臺(tái),北京華海恒輝公司在發(fā)展過程中憑著**的產(chǎn)品質(zhì)量和專業(yè)化的售后服務(wù),贏得廣大用戶的認(rèn)同和贊揚(yáng)。無損探傷儀器作為北京華海恒輝的主導(dǎo)產(chǎn)品,在發(fā)展過程中憑借深入人心的“售前咨詢—工藝提供—售后培訓(xùn)”的“全程顧問式服務(wù)”,使產(chǎn)品贏得了市場(chǎng)的廣泛認(rèn)同和用戶的一致信賴。 在堅(jiān)持超聲波探傷儀為主營(yíng)業(yè)務(wù)的基礎(chǔ)之上,北京華海恒輝積極拓展相關(guān)業(yè)務(wù)領(lǐng)域:硬度計(jì)、測(cè)厚儀、氧化皮檢測(cè)儀、光譜儀、超聲卡、探傷試塊、超聲波探頭、TOFD探傷儀、相控陣探傷儀、渦流探傷儀、磁粉探傷儀、滲透探傷劑、X射線探傷儀、工業(yè)CT、工業(yè)CR/DR、光纖內(nèi)窺鏡、測(cè)力儀器、閥門校驗(yàn)、探傷耗材等。北京華海恒輝的產(chǎn)品已遍布國內(nèi)的鍋容管特、航空航天、鐵路、電力系統(tǒng)、核工業(yè)、石油化工、冶金系統(tǒng)、海事部門、建筑及鋼結(jié)構(gòu)、系統(tǒng)、各類**醫(yī)院、高校及科研院所、造船行業(yè)、機(jī)械行業(yè)和汽車行業(yè)等領(lǐng)域的制造生產(chǎn)的質(zhì)控環(huán)節(jié)上,確立了“華海恒輝檢測(cè)儀,專業(yè)用戶的選擇”的良好口碑?!  ? 在無損檢測(cè)學(xué)會(huì)、北京科委、清華大學(xué)、華東理工大學(xué)的支持下,北京華海恒輝秉承“責(zé)任創(chuàng)造價(jià)值,誠信樹立形象”的企業(yè)理念,以“至誠、志遠(yuǎn)、質(zhì)在上等”為產(chǎn)品理念,以“因?yàn)閷I(yè),所以*”為市場(chǎng)理念,積極開展產(chǎn)業(yè)聯(lián)盟和國內(nèi)、國際合作,適時(shí)涉及新興領(lǐng)域,已成為國內(nèi)綜合實(shí)力**的無損檢測(cè)儀器專業(yè)供應(yīng)商,不斷為客戶提供高品質(zhì)的檢測(cè)儀器產(chǎn)品,追求用戶、合作企業(yè)、員工和公司的共同發(fā)展。
涂層測(cè)厚儀LEPTOSKOP 2042具有精準(zhǔn)的測(cè)量技術(shù)和簡(jiǎn)單的操作方法,是的涂層測(cè)厚儀。通過解鎖代碼,可以使儀器在現(xiàn)場(chǎng)迅速的升級(jí)。
涂層測(cè)厚儀 產(chǎn)品信息
可定制帶系統(tǒng)的涂層測(cè)厚
涂層測(cè)厚儀LEPTOSKOP 2042 利用磁感應(yīng)法(DIN EN ISO 2178)測(cè)量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法(DIN EN ISO 2360)測(cè)量非鐵磁材料上覆蓋的非導(dǎo)電層厚度。
儀器將一種把測(cè)厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS一樣的文件管理系統(tǒng)相結(jié)合,同時(shí)提供10種可供任意選擇的語言,以滿足客戶的各種需求。

涂層測(cè)厚儀LEPTOSKOP 2042是一種經(jīng)濟(jì)的產(chǎn)品,電池壽命長(zhǎng),可以連續(xù)工作100小時(shí)以上。儀器記錄工作時(shí)間和測(cè)量數(shù)量,因此一些重要的參數(shù)可以被保存。

彩色的橡膠皮套也是在供貨范圍內(nèi),可以保護(hù)儀器在工業(yè)環(huán)境中意外滑落不受損害。
隨機(jī)附送儀器箱
(儀器的舉例)
特點(diǎn)概述
大圖解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景燈
校準(zhǔn)選項(xiàng)
出廠時(shí)已校準(zhǔn),立即可用
在未知涂層上校準(zhǔn)*
零校準(zhǔn)*
在無涂層的基體上一點(diǎn)和多點(diǎn)校準(zhǔn)*
在有涂層的基體上校準(zhǔn)*
校準(zhǔn)數(shù)據(jù)可以別單獨(dú)存儲(chǔ)在獨(dú)立的校準(zhǔn)檔案中,也可以隨時(shí)調(diào)出
可選擇的顯示模式,以*佳形式去完成測(cè)量任務(wù)*
輸入和極限監(jiān)視*
Windows下有簡(jiǎn)單的存儲(chǔ)讀數(shù)檔案管理*
可用的電腦軟件STATWIN 2002EasyExport
統(tǒng)計(jì)*
可統(tǒng)計(jì)評(píng)估999個(gè)讀數(shù)
*小值、*大值、測(cè)量個(gè)數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)偏差和極限監(jiān)視
局部厚度和平局膜層厚度(DIN EN ISO 2808)
在線統(tǒng)計(jì),所有統(tǒng)計(jì)值概括
LEPTOSKOP 2042 帶有45°微型探頭 * 取決于配置級(jí)別
3種配置級(jí)別以更好的完成測(cè)量人任務(wù)
LEPTOSKOP 20423種配置級(jí)別
基本型 – 證明質(zhì)量的基本特征
上等型 - 附加統(tǒng)計(jì)評(píng)估
專業(yè)型 - 統(tǒng)計(jì)評(píng)估和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)
如果針對(duì)新的測(cè)量要求,而需要儀器增加新的功能,可以在任何時(shí)候把儀器升級(jí)為上等型和/或?qū)I(yè)型。升級(jí)只需在現(xiàn)場(chǎng)輸入解鎖代碼,“統(tǒng)計(jì)”和/或“統(tǒng)計(jì)& 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)”,便可完成;而不需要把儀器反廠或重新購買新機(jī)器。

這里有操作指南和制定模塊的參考說明。


通過解鎖代碼可以很方便的升級(jí)
(證書舉例)
舉例:儀器上的用戶界面圖像
選擇菜單項(xiàng)目(例如:語言清單)
A 語言清單
B 卷軸條作為導(dǎo)航輔助
清晰的統(tǒng)計(jì)讀數(shù)值和當(dāng)前測(cè)量值
C 基體
D 當(dāng)前測(cè)量值
E “可以測(cè)量”提示
F 單位
G *小值和*大值
H 標(biāo)準(zhǔn)偏離
I 平均值
K 測(cè)量值數(shù)量
電腦讀數(shù)也被存儲(chǔ)在目錄和文件中
L 顯示讀數(shù)的文件符號(hào)
M 可自由選擇的文件名
N 卷軸條作為導(dǎo)航輔助
多樣的探頭
多樣的外部探頭使LEPTOSKOP 2042在困難的條件下,更容易地測(cè)量復(fù)雜幾何圖形上的特殊涂層厚度。涂層厚度是20mm 也是可以的。根據(jù)需求,我們也可以訂做特殊探頭。
探頭類型 測(cè)量方法 測(cè)量范圍 訂貨號(hào)

標(biāo)準(zhǔn)探頭Fe 0?br> 用于在寬闊的、容易測(cè)量的地方 Fe 0 - 3000 祄 2442.100
標(biāo)準(zhǔn)探頭 NFe 0?/font> NFe 0 - 1000 祄 2442.130
標(biāo)準(zhǔn)探頭 NFe S 0?/font> NFe 0 - 3750 祄 2442.140
標(biāo)準(zhǔn)探頭 Fe S 0?br>用于測(cè)量表面有寬闊的涂層厚度 Fe 0.5 - 20 mm 2442.120
標(biāo)準(zhǔn)探頭 Fe 90?br>用于測(cè)量難接近的部位,例如:管子的內(nèi)部 Fe 0 - 3000 祄 2442.110
雙晶探頭用于測(cè)量表面有寬闊的涂層例如:管子的內(nèi)部涂層. Fe 0.5 - 12.5 mm 2442.200
微型探頭0?用于測(cè)量小尺寸和難接近的部位例如:鉆孔的底部 FeNFe 0 - 500 祄 2442.300
2442.310
微型探頭 45?用于測(cè)量小尺寸和難接近的部位 FeNFe 0 - 500 祄 2442.320
2442.330
微型探頭 90?用于測(cè)量小尺寸和難接近的部位例如:管子的內(nèi)壁和鉆孔 FeNFe 0 - 500 祄 2442.340
2442.350
注:點(diǎn)擊單獨(dú)的探頭圖片,可以得到更多詳細(xì)信息

技術(shù)資料
數(shù)據(jù)傳輸接口RS232 或 USB
電源:電池、充電電池、USB或外接電源
測(cè)量范圍: 0 - 20000 um (取決于探頭)
測(cè)量速度: 每秒測(cè)量個(gè)數(shù)值
存儲(chǔ): *多 9999 個(gè)數(shù)值,140個(gè)文件
誤差:
涂層厚度 < 100 祄: 1 % 的數(shù)值 +/- 1 祄 (校準(zhǔn)后)
涂層厚度 > 100 祄: 1..3 % 的數(shù)值 +/- 1 祄
涂層厚度 > 1000 祄: 3..5 % 的數(shù)值 +/- 10 祄
涂層厚度 > 10000 祄: 5 % 的數(shù)值 +/- 100 祄
附件
試塊和膜片
探頭定位裝置 (適用于微型探頭)
定位輔助裝置 (適用于微型探頭)
電腦軟件 STATWIN 2002 用于數(shù)據(jù)傳輸和對(duì)整個(gè)目錄結(jié)構(gòu)的便捷管理
電腦軟件 EasyExport 用于把單獨(dú)的杜說或全部文件傳輸?shù)?span id="htifm6l" class="en">Windows 程序里
關(guān)鍵詞:測(cè)厚儀
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