X射線鍍層測厚儀BA-100采用業(yè)界*的多孔毛細(xì)管光學(xué)聚焦裝置，有效縮小測量點(diǎn)斑點(diǎn)的同時(shí)，可數(shù)倍乃至數(shù)十倍提高X射線激發(fā)強(qiáng)度。該機(jī)型配備大面積的硅漂移探測器，有效拓展元素分析范圍，適應(yīng)嚴(yán)格的微區(qū)、超薄鍍層，以及痕量元素分析需求。優(yōu)秀的測試性能、突出的微區(qū)測量能力，X射線鍍層測厚儀BA-100是您研究開發(fā)、質(zhì)量管控的*XRF鍍層厚度及元素成分分析儀器。
BA-100特點(diǎn)：
1.緊湊式的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)提高效率和精度
2.經(jīng)過驗(yàn)證的固態(tài)探測器提供更高的分辨率、穩(wěn)定性和靈敏度
3.更快的預(yù)熱時(shí)間和更長壽命的光管
4.多種一次濾波器和準(zhǔn)直器
5.可變焦距適應(yīng)復(fù)雜樣品測量需求
6.模塊化設(shè)計(jì)使得維修維護(hù)更容易
7.數(shù)秒內(nèi)快速無損分析
8.成份分析zui多可達(dá)25種元素
9.同時(shí)可zui多分析5層
10.基于基本參數(shù)法的鍍層和成份分析
11.簡單設(shè)置并只需一根USB線和電腦連接
12.快捷的面板控制按鈕
13.占用空間小、輕量化設(shè)計(jì)
BA-100技術(shù)參數(shù)：
X-ray 管 | 50W (50Kv 1mA) 微聚焦鎢鈀射線管 |
探測器 | 固態(tài)探測器（分辨率優(yōu)于190ev） |
分析層數(shù) | 5 層 (4 層+ 基材) |
元素?cái)?shù) | 每層可分析10種元素, 成分分析zui多可分析25種元素 |
濾波器和準(zhǔn)直器 | 4位置一次濾波器和4種規(guī)格準(zhǔn)直器 |
焦距 | 可變焦功能 |
數(shù)字脈沖處理器 | 4096 多通道數(shù)字處理器（自動(dòng)死時(shí)間和逃逸峰校正） |
相機(jī) | 1/4” CMOS-1280x720 VGA分辨率 |
電源 | 150W,電壓：100~240,頻率：47Hz to 63Hz |
工作環(huán)境 | 50°F (10°C) to 104°F (40°C) 少于98%濕度, 無冷凝 |
重量 | 75磅( 34kg)-110磅（50kg） |
馬達(dá)控制 可編程XY平臺(tái) | 平臺(tái)尺寸：350mm(13.8”)×390mm(15.5”) 行程：125mm(5”)×150mm(6”) |
延伸可編程XY平臺(tái) | 平臺(tái)尺寸：715mm(28”)×600mm(24”) 行程：254mm(10”)×254mm(10”) |
內(nèi)部尺寸 | 高: 140mm (5.5”),寬: 310mm (12.”),深: 210mm (8.3”) |
外部尺寸 | 高: 450 mm (18”),寬: 450 mm (18”),深: 600 mm (24”) |
三種不同的樣品臺(tái)滿足不同的需求：
標(biāo)準(zhǔn)固定平臺(tái) 馬達(dá)驅(qū)動(dòng)/可編程XY平臺(tái) 加寬的可編程XY平臺(tái)
BA-100應(yīng)用：
線路板 緊固件
Au/ENi/CuPCB（ENIG） ZnFe/FeZnNi/Fe
Ag或Sn/CuPCB NiP中的磷含量測定
Au/Pd/Ni/Cu/PCB
引線框架和連接器：Au/Pd/Ni/Cu Alloys ，Au/Ni/NiFe
切削工具：TiCN/WCo，TiAlN/WC
五金和管道固定裝置：Ni/Cu，Cr/Ni/Cu/Zn
通訊和數(shù)據(jù)儲(chǔ)存設(shè)備：NiP/Al
珠寶、貴金屬：10, 14, 18Kt
合金分類，雜質(zhì)分析，元素分析，電鍍液溶液分析
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