HORIBA公司X熒光光譜儀
X射線熒光是一種可對加工材料和部件進(jìn)行快速、無損掃描的檢測技術(shù)。分析時(shí)間只需要幾分鐘,靈敏度可以控制在低于100 ppm (0.01%)。XGT系統(tǒng)的檢測低限度可以低至2 ppm (0.0002%). 標(biāo)準(zhǔn)的1.2 mm 分析光速可以保證即使是非常小的電子元件和部件也可以獨(dú)立進(jìn)行分析。
HORIBA公司X熒光光譜儀基于大量客戶的要求,HORIBA憑借*的經(jīng)驗(yàn)開發(fā)出全新的EDXRF分析裝置MESA-50 。它將為您提供友好的操作界面和優(yōu)異的使用性能。
MESA-50具有三種尺寸的準(zhǔn)直器可用于各種大小的樣品,從細(xì)長的電線、微小的電子器件到大型的樣品。
結(jié)合SDD檢測器和HORIBA的DPP處理器,MESA-50將為您帶來EDXRF的全新體驗(yàn)。MESA-50是HORIBA全新的生態(tài)采購支持儀器,不僅適合于歐洲的RoHS,ELV,也適用于其他地區(qū)的各種法規(guī)。
特征
1.Speedy 快速
- 硅漂移檢測器大幅度減少了測量時(shí)間,在高通量的同時(shí)提供了更高的靈敏度
2.Small 小巧
- 便攜式,體積小,重量輕
- 尺寸294(長)* 208(寬)*205(高),重量12千克
- 內(nèi)置電池可持續(xù)測量6小時(shí)
- 無需擔(dān)心X射線泄漏
3.Simple 簡單
- 減少日常維護(hù)工作(無需液氮)
- 無需真空泵
- 各種材料測量直觀簡單
4.Smart 智能
- 中英文操作軟件
- Excel數(shù)據(jù)管理工具