CCD檢測器 | 多塊高分辨率 CCD 檢測器 耐溫變的光學系統(tǒng) 波長范圍:140—670 nm 自動描跡 |
分析程序 | 靈活選擇分析程序 可根據(jù)用戶需求優(yōu)化設(shè)計 可在現(xiàn)場擴展分析程序 |
火花臺 | 沖氬式 便于更換的火花臺蓋板 便于快速更換的樣品夾具 優(yōu)化的紫外光路 |
激發(fā)光源 | 半導體控制放電 電流1- 80 A 放電參數(shù)可根據(jù)不同分析要求調(diào)節(jié) 根據(jù)分析程序設(shè)置的激發(fā)參數(shù) 放電頻率:1- 600 Hz 激發(fā)時間:10 - 1000 ms |
儀器控制 | 串行接口 16位ADC 每16個 CCD 檢測器配有1個DSP調(diào)節(jié)器(50 MHz) |
計算機系統(tǒng) | 外置式 Pentium 計算機 WindowTM 操作系統(tǒng) 鍵盤和鼠標 顯示器 打印機 |
軟件 | 分析操作和校正用的SPECTRO SPARK ANALYZER MX軟件 連續(xù)的自動硬件診斷程序 自動合金類型鑒別 |
2、光學系統(tǒng):專門針對光譜分析開發(fā)的高性能 CCD 檢測器及高性能讀出系統(tǒng),及所有相關(guān)部件密封在FALCON光學結(jié)構(gòu)內(nèi)部,可避免因灰塵或震動引起的干擾。新型高性能讀出系統(tǒng)可同時精確處理輸入數(shù)據(jù),其處理數(shù)度比以往的系統(tǒng)快50倍。這樣,大大縮短了分析時間,提高了分析精度??s短了分析時間,提高了分析精度,所分析的元素波長范圍從140 nm到670 nm。
3、新型火花臺設(shè)計的一個顯著特點是大大地減少了氬氣消耗量,每次激發(fā)后,用快速強勁的氬氣吹掃來清除檢測過程中火花室中殘留的金屬粉塵,即使是經(jīng)過數(shù)千次的檢測火花臺中也不會殘留金屬粉塵,大大減少了維護工作量;樣品夾可左右旋轉(zhuǎn)便于調(diào)節(jié),并配有多種樣品夾具,適合分析不同形狀的樣品,如小樣品,線材和薄片等。
4、儀器設(shè)計方面充分考慮到了所有部件便于更換,操作安全方便,維護周期等。這樣顯著減少了操作者日常的維護工作量,節(jié)省了分析時間,儀器設(shè)有儲藏室便于隨手取工具,高度符合人體工程學設(shè)計,便于操作人員使用儀器。