X-Strata920高效的X射線鍍層測厚儀
-Strata920是一款簡潔、堅(jiān)固和可靠的質(zhì)量控制XRF臺(tái)式熒光系統(tǒng)，用于簡便、快速的鍍層厚度測試和材料分析。
The X-Strata920可應(yīng)用于常規(guī)金屬處理、電子元器件制造和金屬測定（如珠寶鑒定）等行業(yè)，完成單層或多層厚度測量。
主要特點(diǎn)包括：;
§ 成本低、快速、非破壞的EDXRF分析
§ 可完成至多4層鍍層（另加底材）和15個(gè)元素的鍍層厚度測試，自動(dòng)修正X射線重疊譜線
§ 的多元素辨識(shí)，廣泛覆蓋元素表上從鈦（原子序數(shù)22號）到鈾（92號）各元素
測厚行業(yè)20年知識(shí)和經(jīng)驗(yàn)的積淀
使用廣受推崇的能量色散X射線熒光（EDXRF）技術(shù), X-Strata920可實(shí)現(xiàn)如下測試要求：
§ 符合ISO3497標(biāo)準(zhǔn)測試方法：金屬鍍層——X射線光譜法測量鍍層厚度
§ 符合ASTM B568標(biāo)準(zhǔn)測試方法：X射線光譜儀測量鍍層厚度，包括金屬和部分非金屬鍍層
§ 至多同時(shí)分析25種元素
|
日立儀器基于WindowsTM 的軟件SmartLinka，直觀、簡單，使用戶的生產(chǎn)效率化：
界面主要部分： § A) 待測樣品放大的圖像 § B) 清晰的測試結(jié)果顯示：可選擇標(biāo)準(zhǔn)或大字符 § C) X射線波譜，顯示樣品中主要元素 § D) “Stop/Go” 一鍵測量 |
SmartLink® 基本參數(shù)法（FP）軟件
|
日立儀器基于WindowsTM的SmartLinka FP軟件：
§ 基本參數(shù)法可不需或只需很少數(shù)量的標(biāo)樣。 § 儀器預(yù)裝了超過800種應(yīng)用參數(shù)/方法，便于建立測試程序和日常操作。 § 直觀的步驟，可在幾分鐘內(nèi)建立新方法。 § 如有結(jié)構(gòu)匹配的標(biāo)樣，基于FP方法的校正程序可提供可信的定量分析結(jié)果。 § 如沒有結(jié)構(gòu)匹配的標(biāo)樣，可建立一個(gè)純理論的校正程序。 § 如有全套標(biāo)樣，“經(jīng)驗(yàn)式的”感興趣區(qū)域（ROI）校正方法可以實(shí)現(xiàn)的準(zhǔn)確度。 |
SmartLink®基本參數(shù)法分析
|
基本參數(shù)法可以快速、準(zhǔn)確第測量鍍層厚度和材料成分分析：
§ 基于FP的校準(zhǔn)覆蓋廣泛的厚度范圍包括復(fù)雜的多層應(yīng)用。 § 基于FP的校準(zhǔn)液覆蓋廣泛的材料。這對包含大量非常規(guī)任務(wù)的工作特別有用。 § 當(dāng)有限標(biāo)樣時(shí)，基于FP的校準(zhǔn)程序提供了可靠的定量分析的手段。 § 當(dāng)沒有標(biāo)樣時(shí)，可建立純理論的校準(zhǔn)程序進(jìn)行半定量分析。 |
數(shù)據(jù)穩(wěn)定性：波譜校準(zhǔn)標(biāo)樣和自動(dòng)熱補(bǔ)償
|
§ 只需對日立儀器提供的波譜校準(zhǔn)（Spec-Cal）標(biāo)樣進(jìn)行簡單、快速的測量，即可檢測儀器的性能，即靈敏度和檢測器的分辨率。測量結(jié)束時(shí)，儀器自動(dòng)完成校準(zhǔn)，保證儀器長期穩(wěn)定性。 § 自動(dòng)熱補(bǔ)償功能持續(xù)測量儀器的溫度并做修正，保證短期和長期的數(shù)據(jù)穩(wěn)定性。
|
定性分析 – 波譜掃描（計(jì)數(shù)）
|
§ 快速、簡單的定性分析 § 清晰、簡單、可視的元素標(biāo)識(shí)和驗(yàn)證 § 清晰、圖形化顯示出選定X射線能量區(qū)域（keV或通道）在一次測量中錄得的信號計(jì)數(shù)（強(qiáng)度）。 § 波譜和感興趣區(qū)域強(qiáng)度在測量時(shí)實(shí)時(shí)顯示。 § 用戶可以將感興趣區(qū)域的波譜強(qiáng)度導(dǎo)出、打印、保存、恢復(fù)，以及將波譜保存成文本格式以轉(zhuǎn)換至數(shù)據(jù)表作具體研究。 |
報(bào)告生成軟件（簡潔版）
|
§ 可根據(jù)客戶的具體要求打印定制報(bào)告，如：用戶可使用預(yù)置模板或自制報(bào)告模板，并一鍵實(shí)現(xiàn)報(bào)告打印。
|
