刀口掃描式光束分析儀
該光束分析儀是一款基于刀口掃描技術(shù)的產(chǎn)品。相比于CCD光束分析儀，具有更高的分析精度和分辨率，以及更小的光斑測量尺寸。同時具有較寬的光譜范圍，覆蓋UV-VIS-NIR。BeamAnalyzer有兩種探測頭，分別是3刀口（BA3）和7刀口（BA7）。BA3的分析儀適用于更小的光斑和近高斯類型的光束測量。BA7對任意光斑類型都適用，且精度更高。
| 產(chǎn)品特點 * 寬光譜范圍：190-1800 nm * 可測光斑直徑從3μm到9mm，精度達(dá)0.1μm * 光束2D/3D圖像實時顯示 * 可測量多種激光參數(shù)：光束輪廓，光斑尺寸，光束形狀， 光束位置和功率* 采用刀口掃描技術(shù)，實現(xiàn)高精度高分辨率的光束分析 * 高動態(tài)范圍： A/D 12 bit * 主機、探頭以及控制軟件采用USB2.0技術(shù) * 結(jié)構(gòu)緊湊，可用于OEM集成
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| 主要參數(shù) | ||
| 傳感器類型 | Silicon (Si), UV-Silicon (UV-Si)，InGaAs (IR) or IR Enhanced (IRE) | |
| 光譜范圍 | Si UV-Si IR IRE | 350-1100nm 190-1100nm 800-1800nm 1200-2700nm |
| 刀片數(shù) |
| 3（BA3頭） 7（BA7頭） |
| 光束尺寸范圍 | BA3-Si和BA3-UV BA7-Si和BA7-UV(橢圓形) BA7-Si和BA7-UV（圓形） BA3-IR3和BA3-IR3-E BA7-IR3和BA7-IR3-E BA3-IR5 BA7-IR5 | 3µm-5mm 15µm-10mm 15µm-9mm 3µm-3mm 15µm-3mm 3µm-5mm 15µm-5mm |
| 光束寬度分辨率 | >100µm <100µm | 1µm 0.1µm |
| 光束寬度精確度 |
| ±2% |
| 功率范圍 | Si和UV-Si探頭 InGaAs探頭 | 10µW-1W(有衰減片) 10µW-5mW(無衰減片) |
| 功率精確度 | Si和UV-Si探頭 InGaAs探頭 | ±5% ±10% |
| 功率分辨率 |
| 0.1µW |
| 位置精確度 |
| ±15µm |
| 位置分辨率 |
| 1µm |
| 飽和度 | Si和UV-Si探頭 | 0.1W/cm2(無衰減片)，20W/cm2(NG9) |
| 刷新速率 |
| 5Hz |
| 溫度 |
| 00C-350C |
| PC接口 |
| USB2.0 |
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