高頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗儀技術(shù)參數(shù)：

*1.信號源: DDS數(shù)字合成信號 10KHZ-70MHZ

*2.信號源頻率精度3×10-5 ±1個字,6位有效數(shù)

3．Q值測量范圍：1～1023

4．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔；

*5．電感測量范圍：1nH～8.4H 自身殘余電感和測試引線電感的自動扣除功能

*6．電容直接測量范圍：1pF～2.5uF

*7．主電容調(diào)節(jié)范圍：30～540pF

8.準(zhǔn)確度 150pF以下±1pF；150pF以上±1%

9．信號源頻率覆蓋范圍10kHz～70MHz

10．合格指示預(yù)置功能范圍：5～1000

11．環(huán)境溫度：0℃～+40℃；

12．消耗功率：約25W；電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

13. S916（數(shù)顯）介電常數(shù)εr和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測試裝置：數(shù)顯式微桿

平板電容器：

極片尺寸： 38mm

極片間距可調(diào)范圍：≥15mm

夾具插頭間距：25mm±0.01mm

夾具損耗正切值≤4×10－4 （1MHz）

測微桿分辨率：0.001mm

測試極片：材料測量直徑Φ38mm厚度可調(diào) ≥ 15mm

*液體杯：測量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm

14. 電感組LKI-1：分別有0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH九個電感組成。

介電常數(shù)

介質(zhì)在外加電場時會產(chǎn)生感應(yīng)電荷而削弱電場，原外加電場（真空中）與最終介質(zhì)中電場比值即為介電常數(shù)(permittivity),又稱誘電率。如果有高介電常數(shù)的材料放在電場中，場的強度會在電介質(zhì)內(nèi)有可觀的下降。

損耗角正切

電力電容器是一種實際電容器、不是理想電容器，在外施交流電壓的作用下，除了會輸出一定容量的無功功率Q之外，在電容器的內(nèi)部介質(zhì)中、在電容器的極板（鋁箔）中、引線等導(dǎo)體中，以及在瓷瓶間的漏泄電流等都會產(chǎn)生一定的有功損耗功率P。通常把電容器的有功功率P與無功功率Q的比值稱做為該電容器的損耗角正切，并用下式表示： tanδ=P/Q 式中：tanδ—電容器的損耗角正切（%）； P—電容器的有功功率（W）； Q—電容器的無功功率。

介質(zhì)損耗

介質(zhì)損耗角的溫度、濕度特性介質(zhì)損耗：絕緣材料在電場作用下，由于介質(zhì)電導(dǎo)和介質(zhì)極化的滯后效應(yīng)，在其內(nèi)部引起的能量損耗。也叫介質(zhì)損失，簡稱介損。在交變電場作用下，電介質(zhì)內(nèi)流過的電流相量和電壓相量之間的夾角(功率因數(shù)角Φ)的余角δ稱為介質(zhì)損耗角

高頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗儀——實驗環(huán)境條件如溫度、濕度對測定結(jié)果的影響。
溫度：溫度變化會引起高聚物的粘度變化，因而極化建立過程所需要的時間也起變化。溫度對取向極化（介電常數(shù)）有兩種相反的作用，一方面溫度升高，分子間相互作用減弱，粘度下降，使偶極轉(zhuǎn)動取向容易進行，介電常數(shù)增加；另一方面，溫度升高，分子熱運動加劇，對偶極轉(zhuǎn)動干擾增加，使極化減弱，介電系數(shù)下降。對于一般的高聚物來說，在溫度不太高時，前者占主導(dǎo)地位，因而溫度升高，介電常數(shù)增大，到一定范圍，后者超過前者，介電常數(shù)即開始隨溫度升高而減小。
濕度：濕度越大，水分越多，能明顯增加高聚物介電損耗的極性雜質(zhì)。在低頻下，它主要以離子電導(dǎo)形式增加電導(dǎo)電流，引起介電損耗；在微波頻率范圍，水分子本身發(fā)生偶極松弛，出現(xiàn)損耗峰。對于極性高聚物，水有不同程度的增塑作用，尤其是聚酰胺類和聚丙烯酸酯類等，結(jié)果將使高聚物的介電損耗峰向較低溫度移動。水對熱固性塑料也有影響。