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介電常數(shù)介質(zhì)損耗角正切值測試儀

參考價 32000
訂貨量 ≥1
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱北京智德創(chuàng)新儀器設(shè)備有限公司
  • 品       牌智德創(chuàng)新
  • 型       號
  • 所  在  地北京市
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 更新時間2024/2/13 14:57:52
  • 訪問次數(shù)356
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  北京智德創(chuàng)新儀器設(shè)備有限公司(以下簡稱智德儀器,ZDYQ),注冊資金6000萬,是集研發(fā)、設(shè)計、生產(chǎn)、銷售、服務、管理于一體的高科技企業(yè)。擁有一支專業(yè)從事研發(fā)、制造、安裝、調(diào)試及售后服務的團隊,聯(lián)合北京清華大學、北京工業(yè)大學、北京大學,北京航天航空大學精密儀器專家作為公司的技術(shù)顧問,另外我們還擁有一批素質(zhì)高、熱情高、服務優(yōu)的售及售后服務團隊,這就解除了您的后顧之憂。
萬能實驗設(shè)備,電性能檢測儀器,燃燒性能檢測儀器
介電常數(shù)介質(zhì)損耗角正切值測試儀符合標準:《JJG563-2004高壓電容電橋檢定規(guī)程》《JB1811-92壓縮氣體標準電容器》《GB1409-2016固體絕緣材料相對介電常數(shù)和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗方法》《ASTM D150固體電絕緣材料的交流損耗特性及介電常數(shù)的試驗方法》
《IEC 60250測定電氣絕緣材料在工頻、音頻、射頻(包括米波長)下電容率和電介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法》
介電常數(shù)介質(zhì)損耗角正切值測試儀 產(chǎn)品信息

介電常數(shù)介質(zhì)損耗角正切值測試儀

1.實驗目的
了解測定高分子材料介電常數(shù)和介電損耗角正切測定的基本原理
掌握高分子材料材料介電常數(shù)和介電損耗角正切測定的測定方法


2.
實驗原理
介電常數(shù)是表征絕緣材料在交流電場下,介質(zhì)極化程度的一個參數(shù),它是充滿此絕緣材料的電容器的電容量與以真空為電介質(zhì)時同樣電極尺寸的電容器的電容量的比值。介質(zhì)損耗角正切是表征該絕緣材料在交流電場下能量損耗的一個參數(shù),是外施正弦電壓與通過試樣的電流之間的相對的余角正切。測定高分子材料介電常數(shù)和介電損耗角正切實驗方法有:工頻高壓電橋法和變電納法。
本實驗采用工頻高壓電橋法。其工作原理為:被測試樣與無損耗標準電容Co是電橋的兩相鄰橋臂,橋臂R3是無感電阻,與它相鄰的臂由電容C4和恒定電阻R4并聯(lián)構(gòu)成。在電阻R4的中點和屏蔽間接有一可調(diào)電容Ca來完成線路的對稱操作。線路的對稱在這里理解為使R3對屏蔽R4對屏蔽的寄生電容固定且相等。由于電阻線圈R3中的金屬線比電阻R4長得多,臂R3的寄生電容也將大于臂R4的寄生電容。附加電容Ca可以增大臂R4的電容泄漏,使其數(shù)值與臂R3的泄漏相等。臂CaCo的寄生電容不大,因此不用對他們加以平衡。
保護電壓e的作用是消除放大器P處頂點可能存在的泄漏電流,為此e是一個將橋P處頂點的電位引向地電位的裝置。
這主類電橋平衡后必然有:Zx·Z4Zs·Z3
……3-45
其中 Zxj / (ωCx)

Zs
j / (ωCs)
Z3=R3

Z4=[
1 / R4+ jωC4]-1
由平衡條件及tgδ定義可計算出:tgδ=2πf C4·R4·10-12
f50HzR410000/πΩ時,有tgδ= C4·10-6,即可用C4直接表示tgδ值。根據(jù)式(3-45)計算可得到:
C4=C3·(R4
/ R3)·[1+(1/ tg2δ)]
ε
Cs / Co
本方法適用于測試固體電工絕緣材料如絕緣漆、樹脂和膠、浸漬纖維制品、層壓制品、云母及其制品、塑料、薄膜復合制品、陶瓷和玻璃等的相對介電常數(shù)與介質(zhì)損耗角正切以及由它們計算出來的相關(guān)參數(shù),例如損耗因素。
對有些絕緣材料如橡膠以及橡膠制品,薄膜等的上述性能實驗,可按照有關(guān)標準或者參考本標準進行。
3.實驗試樣
本次實驗采用多型腔圓片模具注塑成型的高密度聚乙烯圓片試樣.直徑120mm厚度3mm(由材料形狀,電極選二電極,板狀電極)
4.實驗設(shè)備
ZJD-C
高低頻介電常數(shù)測試儀 北京智德創(chuàng)新儀器設(shè)備有限公司生產(chǎn)
電極
采用板狀圓形電極

5.實驗數(shù)據(jù)

序號

Ca0

ξ


1

52.35

2.20


2

52.67

1.90


3

52.67

1.64


序號

R3(Ω)

tgδ

t

1

1385

45.4

3.32

2

1587

45.3

3.30

3

1838

40.5

3.30

                             6.思考題
1.
實驗要求試樣厚度不大于3mm的原因?答:試樣的厚度如果大于3mm,為了測得他的介電常數(shù),需要一個很高的電壓,這樣使得設(shè)備條件更加苛刻,實驗環(huán)境也不安全。
3.
試樣中含有雜質(zhì)的測試結(jié)果?答:介電系數(shù)增大,導電介質(zhì)或極性雜質(zhì)的存在,會增加高聚物的導電電流和極化率,因而使介電損耗增大,特別是對于非極性高聚物來說,雜質(zhì)成了引起介電損耗的主要原因。
3.
實驗環(huán)境條件如溫度、濕度對測定結(jié)果的影響
溫度:溫度變化會引起高聚物的粘度變化,因而極化建立過程所需要的時間也起變化。溫度對取向極化(介電常數(shù))有兩種相反的作用,一方面溫度升高,分子間相互作用減弱,粘度下降,使偶極轉(zhuǎn)動取向容易進行,介電常數(shù)增加;另一方面,溫度升高,分子熱運動加劇,對偶極轉(zhuǎn)動干擾增加,使極化減弱,介電系數(shù)下降。對于一般的高聚物來說,在溫度不太高時,前者占主導地位,因而溫度升高,介電常數(shù)增大,到一定范圍,后者超過前者,介電常數(shù)即開始隨溫度升高而減小。
濕度:濕度越大,水分越多,能明顯增加高聚物介電損耗的極性雜質(zhì)。在低頻下,它主要以離子電導形式增加電導電流,引起介電損耗;在微波頻率范圍,水分子本身發(fā)生偶極松弛,出現(xiàn)損耗峰。對于極性高聚物,水有不同程度的增塑作用,尤其是聚酰胺類和聚丙烯酸酯類等,結(jié)果將使高聚物的介電損耗峰向較低溫度移動。水對熱固性塑料也有影響。

介電常數(shù)介質(zhì)損耗角正切值測試儀—測試意義

1、介電常數(shù)——北京智德創(chuàng)新檢測儀器絕緣材料通常以兩種不同方式來使用,即(1)用于固定電學網(wǎng)絡部件,同時讓其彼此以及與地面絕緣;(2)用于起到某一電容器的電介質(zhì)作用。在第一種應用中,通常要求固定的電容盡可能小,同時具有可接受且一致的機械,化學和耐熱性能。因此要求電容率具有一個低值。在第二種應用中,要求電容率具有一個高值,以使得電容器能夠在外型上能盡可能小。有時使用電容率的中間值來評估在導體邊緣或末端的應力,以將交流電暈降至最小。
2
、交流損耗——對于這兩種場合(作為電學絕緣材料和作為電容器電介質(zhì)),交流損耗通常必須是比較小的,以減小材料的加熱,同時將其對網(wǎng)絡剩余部分的影響降至最小。在高頻率應用場合,特別要求損耗指數(shù)具有一個低值,因為對于某一給定的損耗指數(shù),電介質(zhì)損耗直接隨著頻率而增大。在某些電介質(zhì)結(jié)構(gòu)中,例如試驗用終止襯套和電纜所用的電介質(zhì),通常電導增加可獲得損耗增大,這有時引入其來控制電壓梯度。在比較具有近似相同電容率的材料時或者在材料電容率基本保持恒定的條件下使用任何材料時,這可能有助于考慮耗散因子,功率因子,相位角或損耗角。
3
、相關(guān)性——北京智德創(chuàng)新檢測儀器當獲得適當?shù)南嚓P(guān)性數(shù)據(jù)時,耗散因子或功率因子有助于顯示某一材料在其它方面的特征,例如電介質(zhì)擊穿,濕分含量,固化程度和任何原因?qū)е碌钠茐摹H欢?,由于熱老化導致的破壞將不會影響耗散因子,除非材料隨后暴露在濕分中。當耗散因子的初始值非常重要的,耗散因子隨著老化發(fā)生的變化通常是及其顯著的。



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