作為患者質(zhì)量保證計(jì)劃的一部分，在次期間或之前，對(duì)計(jì)劃劑量進(jìn)行獨(dú)立檢定的理由眾多，包括遵守專(zhuān)業(yè)治療實(shí)踐指南、降低風(fēng)險(xiǎn)、提高護(hù)理安全和質(zhì)量等。

針對(duì)特定患者的劑量測(cè)量可提供重要信息，以便及早識(shí)別和修正提供規(guī)定劑量過(guò)程中的潛在錯(cuò)誤或缺失。采用了LANDAUER(藍(lán)道爾)的光釋光(OSL)技術(shù)的nanoDot科研劑量計(jì)和microSTARii科研劑量測(cè)定系統(tǒng)，為體內(nèi)劑量測(cè)定提供了一種簡(jiǎn)單、靈活的二極管或場(chǎng)效應(yīng)晶體管(mosfet)的無(wú)線替代方案，還可以與QA模體一起使用以檢定機(jī)器輸出。

對(duì)于電路板的制造商和集成商而言，X射線檢查過(guò)程中輻射劑量的危險(xiǎn)在于高劑量對(duì)電路板的物理?yè)p傷。

另一個(gè)潛在的問(wèn)題是一些細(xì)微且不易察覺(jué)的故障，例如位翻轉(zhuǎn)，程序丟失，泄漏等，而故障的可能性很難評(píng)估，而且物理?yè)p壞通常肉眼難以察覺(jué)。對(duì)于一些關(guān)鍵的半導(dǎo)體設(shè)備，例如閃存，DRAM，微處理器等等，500 mGy（Si）的劑量就會(huì)造成損傷了。

因此，X射線檢查過(guò)程中監(jiān)測(cè)這些元器件所受輻照劑量，并確保劑量不超過(guò)規(guī)定閾值將對(duì)保護(hù)這些電子元器件起到至關(guān)重要的作用。閾值應(yīng)考慮產(chǎn)品壽命期間的累計(jì)劑量。

LANDAUER藍(lán)道爾開(kāi)發(fā)的microSTAR®-ii劑量監(jiān)測(cè)系統(tǒng)可用于監(jiān)測(cè)電路板所受劑量。 該系統(tǒng)所使用的劑量計(jì)nanoDot®的小尺寸和堅(jiān)固性能保證輕松地將其安裝在電路板上的所需位置。