二次離子飛行時(shí)間質(zhì)譜
是Kore公司集多年研發(fā)經(jīng)驗(yàn)生產(chǎn)出*的儀器,*次將材料表面分析技術(shù)引入到可負(fù)擔(dān)得起的日常常規(guī)分析范圍中。可在短的分析時(shí)間內(nèi)生成化學(xué)圖像,突破常規(guī)實(shí)驗(yàn)室儀器的極限!
SurfaceSeer分析儀采用功能強(qiáng)大的二次離子質(zhì)譜SIMS技術(shù),結(jié)構(gòu)緊湊,僅需一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)電源,可放置于任何場(chǎng)所使用。SurfaceSeer應(yīng)用廣泛,是一臺(tái)高性價(jià)比的實(shí)驗(yàn)室型材料表面分析儀器。SurfaceSeer相對(duì)較低的維護(hù)成本和較高的樣品分析速度,保證其單個(gè)樣品分析成本明顯低于商業(yè)實(shí)驗(yàn)室的SIMS。SurfaceSeer是研究人員負(fù)擔(dān)得起的、具有表面成像功能 (可選深度剖析) 的儀器。
TOF-SIMS
二次離子質(zhì)譜儀 (SIMS) 是材料表面分析重要的技術(shù)之一,SIMS可以揭示表面及近表面原子層的化學(xué)組成。所獲取的信息遠(yuǎn)超過簡(jiǎn)單的元素分析,可以識(shí)別有機(jī)組分的分子結(jié)構(gòu)。
TOF-SIMS 的關(guān)鍵功能是原位無損分析表面區(qū)域 (靜態(tài)SIMS)。TOF-SIMS使用掃描脈沖聚焦探頭束(成像SIMS)建立無損表面的化學(xué)成像。使用其它離子束逐步刻蝕表面,對(duì)表面作深度剖析(動(dòng)態(tài)SIMS)。只需極少的樣品前處理,極短的時(shí)間內(nèi)就可獲得高靈敏度的分析結(jié)果 。
二次離子飛行時(shí)間質(zhì)譜特點(diǎn)
單層表面信息
檢測(cè)所有元素
識(shí)別有機(jī)物
高靈敏度分析
快速化學(xué)成像
薄膜深度剖析
設(shè)計(jì)緊湊
經(jīng)濟(jì)適用,友好的用戶界面
SurfaceSeer擁有功能強(qiáng)大的樣品處理裝置提供各種樣品支架,可裝載不同厚度和直徑的樣品。
SurfaceSeer檢測(cè)未知樣品如同檢測(cè)已知樣品那樣簡(jiǎn)單,對(duì)未知樣品具有*的分析性能, 可研究微小區(qū)域的表面,并可提取更多的有機(jī)樣品信息。
SurfaceSeer質(zhì)譜儀可同時(shí)分析所有元素及有機(jī)物,可消除有機(jī)物和元素干擾,使譜圖更清晰,檢測(cè)限更低,能更有效地分析材料樣品。
SurfaceSeer所有儲(chǔ)存的數(shù)據(jù)都能用于溯源性分析。數(shù)據(jù)處理軟件允許分析數(shù)據(jù)和樣品的化學(xué)構(gòu)成信息進(jìn)行全面的交互提取。SIMS擁有的常見材料譜庫(kù)可幫助識(shí)別未知物。
SurfaceSeer應(yīng)用領(lǐng)域:
表面涂層與處理
電子元件
半導(dǎo)體
電極與傳感器
潤(rùn)滑劑
催化劑
粘合劑
薄膜
包裝材料
腐蝕研究
大學(xué)教學(xué)與科研