SPS(POLOS)單點(diǎn)測量便攜式FR測量儀
單點(diǎn)測量
小型化解決方案，用于精確無損測量透明和半透明單層薄膜或薄膜疊層的厚度。保證高度精確和可重復(fù)的測量。
產(chǎn)品說明
FR-pOrtable是一種小型化交鑰匙解決方案，用于透明和半透明單層薄膜或薄膜疊層的精確無損光學(xué)表征。使用FR-pOrtable，用戶可以在350-1000 nm光譜范圍內(nèi)對薄膜進(jìn)行反射率測量。
FR-pOrtable的緊湊尺寸和定制設(shè)計的反射探頭保證了高度精確和可重復(fù)的測量。
FR-pOrtable既可以安裝在所提供的載物臺上，也可以輕松轉(zhuǎn)換為手持式厚度測量工具，放置在待測樣品上。FR-pOrtable是現(xiàn)場應(yīng)用的光學(xué)表征工具。
特征
厚度測量范圍:12納米到90微米
折光率(n & k)計算
寬光譜范圍:380納米–1020納米
USB供電
輕便的
反射、透射、吸收和顏色參數(shù)
配件
現(xiàn)場適配器:用于需要時的測量
透射模塊:用于測量涂層的透射和吸收光譜、涂層厚度等。
手動X-Y載物臺:用于在多個位置表征涂層(手動移動)
應(yīng)用程序
大學(xué)和研究實(shí)驗(yàn)室
半導(dǎo)體(氧化物、氮化物、硅、抗蝕劑等。)
生命科學(xué)
MEMS器件(光刻膠、硅膜等。)
發(fā)光二極管
數(shù)據(jù)存儲
彎曲基底上的硬/軟涂層
聚合物涂層、粘合劑等。
生物醫(yī)學(xué)(聚對二甲苯、氣球壁厚等。)
更多…(聯(lián)系我們了解您的需求)
操作原理
白光反射光譜(WLRS)測量在一定波長范圍內(nèi)從薄膜或多層疊堆反射的光量，入射光垂直于樣品表面。
由界面干涉產(chǎn)生的測量反射光譜用于確定厚度、光學(xué)常數(shù)(n & k)等。自立式和支撐式(在透明或部分/反射的基底上)薄膜疊層。
SPS(POLOS)單點(diǎn)測量便攜式FR測量儀
