一.概述：
全量程四探針測(cè)試儀
四探針?lè)?，可測(cè)微歐到兆歐方阻值量程，采用AD芯片控制，恒流輸出， PC軟件運(yùn)行，自動(dòng)數(shù)據(jù)測(cè)量和系數(shù)修正，直讀方阻，電阻，電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù)；中文或英文語(yǔ)言版本；具有屏蔽功能；參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。單晶硅物理測(cè)試方法
二.適用范圍：
全量程四探針測(cè)試儀
1.導(dǎo)電性新材料、鋁箔、銅箔、鋁涂層、碳纖維材料、電極材料；
2.一般的涂層材料、薄膜、薄片基底材料研究.
3.大學(xué)、研究、R&D部門對(duì)新材料寬量程電阻率或電導(dǎo)性能研究使用.
全量程四探針測(cè)試儀
三.參數(shù)資料：
規(guī)格型號(hào) | FT-3671A經(jīng)濟(jì)型 | FT-3671B自動(dòng)型 |
1.方塊電阻范圍 | 10^6～2×10^7Ω/□ | |
2.電阻率范圍 | 10^7～2×10^8Ω-cm | |
3.測(cè)試電流范圍 | 1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA, 100nA ,10nA , 1nA | |
4.電流精度 | 1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA±0.1% ; 100nA ,10nA , 1nA±2% | |
5.電阻精度 | 10^2Ω以下量程≤0.5%; 10^2Ω以上量程≤10%; | |
6.PC軟件界面操作 | PC軟件界面顯示：電阻、電阻率、方阻、電導(dǎo)率、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、過(guò)程圖譜，報(bào)表生成. | |
7.測(cè)試方式 | 手動(dòng)測(cè)量 | 自動(dòng)測(cè)量 |
8.工作電源 | 輸入: AC 220V±10%.50Hz功 耗：100W | |
9.誤差 | 小量程≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）;大量程≤10% | |
10.校準(zhǔn)方式 | 標(biāo)準(zhǔn)電阻和標(biāo)準(zhǔn)樣片 | |
11.測(cè)試探頭 | 探針間距選購(gòu)： 2mm；3mm兩種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購(gòu)：碳化鎢針、鍍金磷銅半球形針 | |
