珍珠珠層厚度無(wú)損檢測(cè)研究有重大突破
從廣西*獲悉，2009年3月15日，該局承擔(dān)的“X射線和近紅外光珍珠珠層厚度無(wú)損檢測(cè)儀研究與應(yīng)用”科技成果項(xiàng)目鑒定驗(yàn)收會(huì)在廣西產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)院召開(kāi)。此次項(xiàng)目驗(yàn)收鑒定會(huì)由廣西*組織，全國(guó)有關(guān)方面的專家對(duì)項(xiàng)目進(jìn)行了審定。
據(jù)了解，該課題技術(shù)在珍珠檢測(cè)領(lǐng)域具有較高的創(chuàng)新性。 一是國(guó)內(nèi)*微焦斑（Φ=8μm）X射線透射技術(shù)和CCD光電成像技術(shù)相結(jié)合，實(shí)時(shí)整體成像；二是珠層圖像自動(dòng)甄別采集，根據(jù)灰度級(jí)差原理，自動(dòng)由外向內(nèi)搜索（圖像由白到黑）之zui大梯度處視為珍珠核與珍珠層邊緣；三是用測(cè)量誤差理論zui小二乘法圓度擬合，自動(dòng)獲取zui接近珠核與珠層平均圓，實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確和快速自動(dòng)檢測(cè)；四是用計(jì)算機(jī)技術(shù)實(shí)現(xiàn)尺寸自動(dòng)匹配，以消除點(diǎn)光源引起不同尺寸珍珠的投影與其真正直徑測(cè)量偏差的問(wèn)題；五是研究出儀器的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)，建立量傳溯源體系，確保測(cè)量準(zhǔn)確度；六是實(shí)現(xiàn)珍珠球體多截面測(cè)量；七是控制測(cè)量誤差，實(shí)現(xiàn)儀器測(cè)量準(zhǔn)確度≤0.02mm。
參會(huì)專家一致認(rèn)為：該課題在全國(guó)開(kāi)展采用X射線和近紅外光學(xué)相干層析成像技術(shù)對(duì)珍珠進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)綜合對(duì)比研究，并取得突破性進(jìn)展，成功研制出兩種珍珠無(wú)損檢測(cè)高精度新儀器，把*的測(cè)量理論成功轉(zhuǎn)化為具有廣泛應(yīng)用意義的技術(shù)創(chuàng)新成果和測(cè)量?jī)x器，屬于國(guó)內(nèi)*，技術(shù)水平達(dá)到國(guó)內(nèi)，*水平。
目前該項(xiàng)目所研究的兩種無(wú)損檢測(cè)方法已被納入國(guó)家技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)在全國(guó)推廣應(yīng)用。對(duì)提高珍珠產(chǎn)品質(zhì)量，促進(jìn)廣西珍珠產(chǎn)業(yè)的發(fā)展將具有深遠(yuǎn)的社會(huì)效益和經(jīng)濟(jì)效益。
珍珠珠層厚度無(wú)損檢測(cè)研究有重大突破
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