成都中冷低溫科技有限公司
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詳細(xì)摘要： 芯片動(dòng)態(tài)老化測(cè)試系統(tǒng)，高低溫在線測(cè)試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測(cè)試專用設(shè)備。能使用戶在高低溫條件下對(duì)半導(dǎo)體分立器件、光耦、...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：成都市更新時(shí)間：2025-05-19 在線留言
詳細(xì)摘要： 在線式溫度沖擊系統(tǒng)ThermalAir熱流儀維修，設(shè)備運(yùn)行一段時(shí)間后會(huì)出現(xiàn)一定的污染和老化，嚴(yán)重時(shí)會(huì)導(dǎo)致設(shè)備運(yùn)行不穩(wěn)定，從而影響制冷的效率，進(jìn)行設(shè)備大保養(yǎng)是為了...
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詳細(xì)摘要： ThermalAir超高速高低溫?zé)崃鲀x 維修，設(shè)備運(yùn)行一段時(shí)間后會(huì)出現(xiàn)一定的污染和老化，嚴(yán)重時(shí)會(huì)導(dǎo)致設(shè)備運(yùn)行不穩(wěn)定，從而影響制冷的效率，進(jìn)行設(shè)備大保養(yǎng)是為了保證...
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詳細(xì)摘要： 沖擊試驗(yàn)箱 導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案，本系統(tǒng)針對(duì) PCB 通路電阻測(cè)試中阻值低、測(cè)試精度高的要求，克服了手工測(cè)量過程中可能出現(xiàn)的干擾、不穩(wěn)定等技術(shù)問題，實(shí)現(xiàn)了對(duì) P...
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詳細(xì)摘要： 芯片老化測(cè)試Small Burn-in Test system，高低溫在線測(cè)試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測(cè)試專用設(shè)備。能使...
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詳細(xì)摘要： 冷熱沖擊箱 導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案，本系統(tǒng)針對(duì) PCB 通路電阻測(cè)試中阻值低、測(cè)試精度高的要求，克服了手工測(cè)量過程中可能出現(xiàn)的干擾、不穩(wěn)定等技術(shù)問題，實(shí)現(xiàn)了對(duì) P...
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詳細(xì)摘要： zonglen導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案，本系統(tǒng)針對(duì) PCB 通路電阻測(cè)試中阻值低、測(cè)試精度高的要求，克服了手工測(cè)量過程中可能出現(xiàn)的干擾、不穩(wěn)定等技術(shù)問題，實(shí)現(xiàn)了對(duì) ...
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詳細(xì)摘要： 集成電路IC芯片溫度沖擊測(cè)試機(jī)熱流儀 ，溫度變化速率快，-55℃至+125℃之間轉(zhuǎn)換約10秒。產(chǎn)品的特性分析、高低溫溫變測(cè)試、溫度沖擊測(cè)試、失效分析等可靠性試驗(yàn)...
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詳細(xì)摘要： Small Burn-in Tester芯片老化測(cè)試，高低溫在線測(cè)試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測(cè)試專用設(shè)備。能使用戶在高低...
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詳細(xì)摘要： zonglen高低溫循環(huán)測(cè)試系統(tǒng)熱流罩，溫度變化速率快，-55℃至+125℃之間轉(zhuǎn)換約10秒。產(chǎn)品的特性分析、高低溫溫變測(cè)試、溫度沖擊測(cè)試、失效分析等可靠性試驗(yàn)...
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詳細(xì)摘要： 導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案冷熱沖擊試驗(yàn)箱，本系統(tǒng)針對(duì) PCB 通路電阻測(cè)試中阻值低、測(cè)試精度高的要求，克服了手工測(cè)量過程中可能出現(xiàn)的干擾、不穩(wěn)定等技術(shù)問題，實(shí)現(xiàn)了對(duì) ...
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詳細(xì)摘要： 高低溫測(cè)試儀桌面式快速溫變?cè)囼?yàn)機(jī)，接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對(duì)芯片可靠性測(cè)試的專用設(shè)備，通過測(cè)試頭與待測(cè)器件直接貼合的方式實(shí)現(xiàn)能量傳遞，與傳統(tǒng)氣流式高低...
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詳細(xì)摘要： 熱流儀高低溫循環(huán)測(cè)試系統(tǒng)TS780，溫度變化速率快，-55℃至+125℃之間轉(zhuǎn)換約10秒。
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詳細(xì)摘要： HAST 高壓加速老化試驗(yàn)箱，絕緣電阻劣化評(píng)估系統(tǒng)HAST高加速老化，絕緣電阻劣化（離子遷移）測(cè)試系統(tǒng)搭配HAST高加速老化試驗(yàn)箱，可高精度連續(xù)監(jiān)測(cè)，快捷評(píng)估因...
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詳細(xì)摘要： Thermal Inducing System高低溫沖擊氣流儀，設(shè)備運(yùn)行一段時(shí)間后會(huì)出現(xiàn)一定的污染和老化，嚴(yán)重時(shí)會(huì)導(dǎo)致設(shè)備運(yùn)行不穩(wěn)定，從而影響制冷的效率，進(jìn)行設(shè)...
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詳細(xì)摘要： 高低溫沖擊氣流儀 老化壽命檢測(cè)試驗(yàn)箱，溫度變化速率快，-55℃至+125℃之間轉(zhuǎn)換約10秒。產(chǎn)品的特性分析、高低溫溫變測(cè)試、溫度沖擊測(cè)試、失效分析等可靠性試驗(yàn)，...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：成都市更新時(shí)間：2025-05-19 在線留言
詳細(xì)摘要： inTEST 熱流儀冷熱循環(huán)沖擊氣流測(cè)試機(jī)維修，inTEST 熱流儀微處理器芯片高低溫測(cè)試 維修，inTEST-Temptronic 高低溫循環(huán)測(cè)試機(jī)閃存溫度測(cè)...
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詳細(xì)摘要： inTEST 熱流儀高低溫循環(huán)沖擊機(jī)維修，inTEST 熱流儀微處理器芯片高低溫測(cè)試 維修，inTEST-Temptronic 高低溫循環(huán)測(cè)試機(jī)閃存溫度測(cè)試應(yīng)用...
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詳細(xì)摘要： 熱流儀 集成電路IC芯片溫度沖擊測(cè)試機(jī)，溫度變化速率快，-55℃至+125℃之間轉(zhuǎn)換約10秒。
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詳細(xì)摘要： 接觸式高低溫沖擊機(jī)thermoplate，接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對(duì)芯片可靠性測(cè)試的專用設(shè)備，通過測(cè)試頭與待測(cè)器件直接貼合的方式實(shí)現(xiàn)能量傳遞，與傳統(tǒng)氣...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：成都市更新時(shí)間：2025-05-19 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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