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西安誼邦電子科技有限公司


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科佩爾CATE IPM測試儀替代品

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產(chǎn)品型號

品       牌

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地西安市

聯(lián)系方式:李想查看聯(lián)系方式

更新時間:2024-05-17 17:00:17瀏覽次數(shù):245次

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經(jīng)營模式:生產(chǎn)廠家

商鋪產(chǎn)品:29條

所在地區(qū):陜西西安市

聯(lián)系人:李想 (項目經(jīng)理)

產(chǎn)品簡介

IPM,即智能功率模塊,是*的混合集成功率器件。一般使用IGBT作為功率開關(guān)元件,內(nèi)部集成電流傳感器及驅(qū)動電路的集成結(jié)構(gòu)。
IPM模塊需要測試的特性參數(shù)很多,其中關(guān)鍵的測試參數(shù)為開關(guān)特性(時間特性)的測量。該系統(tǒng)在解決IPM的控制信號以及高速數(shù)據(jù)采集處理兩個關(guān)鍵技術(shù)的條件下,是一套基于DSP及FPGA的高速實時測試系統(tǒng)。

詳細介紹

ENI1220 IPM 測試系統(tǒng)

科佩爾CATE IPM測試儀替代品

 

系統(tǒng)概述

 

基礎(chǔ)配置

 

IPM,即智能功率模塊,是*的混合集成功率器件。一般使用IGBT作為功率開關(guān)元件,內(nèi)部集成電流傳感器及驅(qū)動電路的集成結(jié)構(gòu)。

IPM模塊需要測試的特性參數(shù)很多,其中關(guān)鍵的測試參數(shù)為開關(guān)特性(時間特性)的測量。該系統(tǒng)在解決IPM的控制信號以及高速數(shù)據(jù)采集處理兩個關(guān)鍵技術(shù)的條件下,是一套基于DSP及FPGA的高速實時測試系統(tǒng)。

 

電壓

電流

 

 

標配

選配

標配

選配

 

 

1200V

1000V

200A

200A

 

 

2200V

400A

 

 

3300V

600A

 

 

4500V

1000A

 

 

6000V

2000A

 

配置/短路測試

 

電壓

電流

短路測試

 

標配

選配

標配

選配

項目

范圍

誤差

分辨率

 

1200V

2200V

200A

400A

VPN

100V~1200V

±3%

10V

 

3300V

600A

測試電流

10A~75A

±3%

1A

 

4500V

1000A

短路電流

100A~500A

±3%

1A

 

6000V

2000A

短路時間

1 uS~10uS

可調(diào)

可調(diào)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

測試功能

 

測試范圍

測試參數(shù)

 

IPM

BVCES, BVRRM, BVSCES, ICES, IRRM, VCE(SAT), VEC, VFBR, VDSET, VDSET-HP, ID,

UVt, UVr, OUVt, OUVr, VCIN(ON), VCIN(OFF),

ICIN(ON), ICIN(OFF), IFO(H), IFO(L), VFO(SAT), Iin leak, VCIN, ICIN,

OTc, TC-Out, td(OV), Udcout, OV, OVt, T_MEAS, V_MEAS

 

IGBT

ICES, BVCES, IGES, VF, VGEON, VTH, VTHS, ICE(SAT), VCE(SAT)

 

DIODE

VF-Temp, Temp, VF revision

 

 

 

 

參數(shù) / 精度

 

靜態(tài)參數(shù)

 

動態(tài)參數(shù)

 

上橋IGBT/FRD漏電流測試(Ices-H)

關(guān)

數(shù)

集電極電壓Vce:

100~1200V,

誤差±3%,分辨率10V

 

上橋IGBT/FRD耐壓測試(Bvce-H)

 

上橋驅(qū)動IC低端靜態(tài)電流測試(IDH)

集電極電流Ice:

10~75A,

誤差±3%,分辨率1A

 

上橋驅(qū)動IC靜態(tài)工作電流測試

(Iqbs-U,V,W)

 

VD=VBS=15V,           

誤差±3%,分辨率0.1V

 

上橋欠壓保護監(jiān)測電平 (UVbsd-U V W)

VIN=0~5V             

誤差±3%,分辨率0.1V   

上橋欠壓保護復(fù)位電平(UVbsr-U V W)

ton-L : 10~500nS,    

誤差±3%,分辨率1nS

 

上橋驅(qū)動IC導(dǎo)通閾值電壓測試

(Vth(on)-UH VH WH)

tc(on)-L :5~200nS,

誤差±3%,分辨率1nS    

 

toff-L: 50~500nS,   

誤差±3%,分辨率1nS

 

上橋驅(qū)動IC關(guān)斷閾值電壓測試

(Vth(off)-UH VH WH)

tc(off)-L: 5~200nS,

誤差±3%,分辨率1nS     

 

Trr-L :10~500nS,    

誤差±3%,分辨率1nS

 

上橋IGBT飽和電壓測試(Vce(sat)-UH VH WH)

Eon-L :0.1~10mJ,   

誤差±3%,分辨率0.1mJ  

 

上橋FRD正向壓降測試(VF-(UH VH WH)

Eoff-L: 0.1~10mJ  

誤差±3%,分辨率0.1mJ

 

下橋IGBT/FRD漏電流測試(Ices-L)

關(guān)

數(shù)

集電極電壓Vce:

100~1200V,

誤差±3%,分辨率10V

 

下橋驅(qū)動IC靜態(tài)工作電流測試(IDL)

 

故障輸出電壓測試(Vfoh Vfol)

集電極電流Ice:

10~75A,

誤差±3%,分辨率1A

 

過流保護閾值電壓測試(Vcin(ref))

 

下橋欠壓保護監(jiān)測電平(UVdd)

VD=VBS=15V,           

誤差±3%,分辨率0.1V

 

下橋欠壓保護復(fù)位電平(UVdr)

VIN=0~5V             

誤差±3%,分辨率0.1V   

 

下橋驅(qū)動IC導(dǎo)通閾值電壓

(Vth(on)-UL VL WL)

ton-L : 10~500nS,    

誤差±3%,分辨率1nS

 

tc(on)-L :5~200nS,

誤差±3%,分辨率1nS    

 

下橋驅(qū)動IC關(guān)斷閾值電壓

(Vth(off)-UL VL WL)

toff-L: 50~500nS,   

誤差±3%,分辨率1nS

 

tc(off)-L: 5~200nS,

誤差±3%,分辨率1nS     

 

下橋IGBT飽和電壓測試(Vce(sat)-UL VL WL)

Trr-L :10~500nS,    

誤差±3%,分辨率1nS

 

下橋FRD正向壓降測試(VF-(UL VL WL)

Eon-L :0.1~10mJ,   

誤差±3%,分辨率0.1mJ  

 

 

 

Eoff-L: 0.1~10mJ  

誤差±3%,分辨率0.1mJ


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