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SAKI 雙軌AOI光學檢測儀 BF-10D

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更新時間：2024-04-07 12:33:38瀏覽次數(shù)：428次

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產(chǎn)品簡介

SAKI2D光學外觀自動檢查機（AOI）SAKI光學檢測設備2DAOI，采用其獨自開發(fā)的線性掃描技術(shù)，利用其的線性攝像系統(tǒng)與同軸垂直落射照明相結(jié)合，通過簡易的機構(gòu)，實現(xiàn)了高速、高精度、高可靠性的檢查，是在線光學檢查設備中的解決方案

詳細介紹

SAKI 2D 光學外觀自動檢查機（AOI）

SAKI光學檢測設備2D AOI ，采用其獨自開發(fā)的線性掃描技術(shù) ，利用其的線性攝像系統(tǒng)與同軸垂直落射照明相結(jié)合，通過簡易的機構(gòu)，實現(xiàn)了高速、高精度、高可靠性的檢查，是在線光學檢查設備中的解決方案。

SAKI 2D AOI得益于線性掃描的設計理念，實現(xiàn)了緊湊的機身設計，無論是單軌還是雙軌都以同樣的裝置寛度，實現(xiàn)了單位面積內(nèi)生產(chǎn)率。的線性掃描設計方式，使得裝置在運行中沒有任何振動，保證了設備的高精度性，也鑄就了設備極低的故障率。

SAKI 獨自開發(fā)的線掃描技術(shù)

SAKI 線掃描技術(shù)，是快速地進行全基板的掃描，是賽凱智能測試設備的基礎(chǔ)技術(shù)。賽凱智能采用線性照相機的攝像方式，實現(xiàn)了快速的檢查。

其他品牌 AOI 通過一般的測試設備所采用的分段拍攝方式，根據(jù)零部件數(shù)，基板尺寸改變檢查工作，如果進行更細微的檢查，則檢查時間會大幅度增大。

SAKI 同軸照明無陰影檢測

同軸落射照明是賽凱智能的獨自技術(shù)，是在基板全部位置上，對于檢查部件從正上方照射同軸光的技術(shù)。同軸落射照明，不受相鄰零部件大小和高低的影響，使得 SAKI 機器能夠捕捉到焊端任意角度無陰影的影像。

SAKI 高速線性掃描 2D AOI

1）SAKI 通過高精度大口徑遠心透鏡光學系統(tǒng)，結(jié)合豐富的算法和的同軸落射照明，不會漏掉任何檢查對象。
2）SAKI 高解析度線性掃描 AOI，可用于任何高速生產(chǎn)線，實現(xiàn)爐前、爐后、綜合檢查的全自動光學檢測機。

3）SAKI 以其豐富的軟件支持系統(tǒng)，滿足顧客的遠程調(diào)試、一機多聯(lián)、條碼追索、MES接入，等各種需求，保護顧客的長遠投資。

　　技術(shù)規(guī)格

機器型號		BF-Planet-X Ⅱ	BF-Frontier Ⅱ	BF-Tristar Ⅱ	BF-10D

裝置特性		單面掃描測試 M 基板，最小元件 01005	單面掃描測試 LL 基板，最小元件 0201	雙面掃描同時測試 M 基板，最小元件 01005	雙軌、單面掃描測試 M～L 基板，最小元件 01005

分辨率		10 um	18 um / 9 um	10 um	10 um
基板尺寸		60 x 50 ~ 330 x 250 mm	60 x 50 ~ 500 x 460 mm	60 x 50 ~ 330 x 250 mm	單軌道 : 60 x 50 ～ 330 x 460 mm 雙軌道 : 60 x 50 ～ 330 x 250 mm
基板翹曲		±2 mm	±2 mm	±1 mm	±2 mm
零部件高度		上面 : 40 mm 下面 : 40 mm	上面 : 40 mm 下面 : 40 mm	上面 : 40 mm 下面 : 30 mm	上面 : 40 mm 下面 : 40 mm
圖像掃描時間 (尺寸基板)		約5秒	約5秒	約5秒	約8.5秒
主要的檢查項目		零部件的有無，位置偏差，橫側(cè)站立，縱站立，表里反轉(zhuǎn)，極性反轉(zhuǎn)，橋接，異物粘著，沒有焊錫，焊錫少，引腳漂浮，芯片漂浮，圓角異常

基板厚度		0.6 ~ 3.2 mm
照相機		CCD 線性感應器照相機
照明		LED 同軸落射照明
可以連接系統(tǒng)的選項	BF-Editor	√
	BF-RP1	√
	BF-Monitor	√
	BF-WebTracerII	√
	2D 條形碼識別功能	√
	OK/NG信號輸出	√
	涂上防濕劑檢查	√
設備外形尺寸 W x D x H		600 x 915 x 1270 mm	850 x 1340 x 1230 mm	850 x 1295 x 1130 mm	850 x 1360 x 1380 mm