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更新時間:2024-02-01 13:18:50瀏覽次數(shù):165次
聯(lián)系我時,請告知來自 智慧城市網(wǎng)韓國XRF-2000X光鍍層測厚儀,測量鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍錫,鍍鈀等
韓國XRF-2000X射線膜厚儀精度
韓國XRF-2000X射線鍍層測厚儀檢測范圍
Au 0.03-4um
Pd 0.03-4um
Ni 0.05-20um
Ni-P 0.05-20um
Sn 0.05-80um
Ag 0.03-20um
Cr 0.05-20um
Zn 0.05-20um
ZnNi 0.05-20um
SnCu 0.05-20um
設(shè)備功能描述
兼容Microsoft Windows 操作系統(tǒng)
使用X熒光射線非接觸非破壞快速測量膜厚層
各種樣品單層至多層(5層),合金膜層均可測量
定點自動定位分析
光徑對準全自動
影像重疊功能
自動顯示測量參數(shù)
彩色區(qū)別測量數(shù)據(jù)
多重統(tǒng)計顯示視窗與報告編輯應(yīng)用2D/3D,任意位置測量控制Y軸全自動控制雷射對焦與自動定位系統(tǒng)
多種機型選擇X-ray運行待命(睡眠)控制溫控穩(wěn)定延長校準時效全進口美日系零件價格優(yōu)勢及快速的服務(wù)時效
Micro XRF-2000 韓國先鋒鍍層測厚儀系列
測量鍍種為:鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳,鍍鋅鎳合金等
測量的厚度范圍為0.03微米~35微米。
可測單層、雙層、多層、合金鍍層測量,不限底料。
XRF-2000鍍層測厚儀三款型號
不同型號各種功能相同
機箱容納樣品大小有以下不同要求
XRF-2000H型:測量樣品高度不超過10cm (長寬55cm)
XRF-2000L型:測量樣品高度不超過3cm (長寬55cm)
XRF-2000PCB型:測量樣品高度不超3cm,PCB板
XRF-2000可測六層.誤差大約如下:*層(5%).第二層(8%).第三層(12%).第四層(20%).第五層(25%).第六層為底材.誤差視乎不同原素不同厚度有所不同。
韓國XRF-2000X射線膜厚儀精度
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