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手持式四探針方阻測試儀

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具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號HT-391

品       牌

廠商性質(zhì)其他

所  在  地北京市

聯(lián)系方式:施經(jīng)理查看聯(lián)系方式

更新時間:2023-12-08 11:09:04瀏覽次數(shù):148次

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產(chǎn)品簡介

HT-391手持式四探針方阻測試儀參照硅片電阻率測量的標(biāo)準(zhǔn)(ASTMF84);GB/T1551-2009《硅單晶電阻率測定方法》;GB/T1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》;GB/T1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》,采集集成電路恒流源系統(tǒng),可充電式電源系統(tǒng),上下限設(shè)定

詳細(xì)介紹

 HT-391手持式四探針方阻測試儀參照硅片電阻率測量的標(biāo)準(zhǔn)(ASTM F84);GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》;GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》;GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》,采集集成電路恒流源系統(tǒng),可充電式電源系統(tǒng),上下限設(shè)定。

概述:

參照硅片電阻率測量的標(biāo)準(zhǔn)(ASTM F84);GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》;GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》;GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》,采集集成電路恒流源系統(tǒng),可充電式電源系統(tǒng),上下限設(shè)定。

 

功能介紹:

手持式外型結(jié)構(gòu),適用于車間生產(chǎn)、品管抽檢,外出攜帶測量的場所;也適用于中小型半導(dǎo)體材料生產(chǎn)企業(yè).

 

參數(shù)資料:

規(guī)格型號Specification model

HT-391A

HT-391B

HT-391C

1.方塊電阻范圍sheet resistance

10~2.00×102Ω/□

10~2.00×103Ω/□

10~2.00×104Ω/□

2.電阻率范圍resistivity

1~2×103Ω-cm

1~2×104Ω-cm

1~2×105Ω-cm

3.分辨率resolution

0.01Ω

0.01Ω

0.01Ω

4.顯示讀數(shù)display

液晶顯示:電阻率、方阻、單位換算、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 LCD: resistivity. sheet resistance. unit conversion. current.   voltage. probe shape. probe spacing. thickness.

5.測試方式test mode

單電測量single electrical measurement

6.工作電源working power

5V.1000mA

7. 誤差errors

≤4.5%(標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果standard samples)

8.選配choose to buy

 選配1.方形探頭; 選配2.直線形探頭;探針間距;選配3:探針間距1mm;2mm;3mm三種規(guī)格; 選配4:探針材質(zhì):碳化鎢針;鍍金磷銅半球形針square probe; 2. linear probe; 3.Optional probe spacing: 1mm;2mm;3mm in three sizes.4.Select probe   material: tungsten carbide needle.gilded copper hemispherical needles.

 

參數(shù)資料

規(guī)格型號specification model

HT-392A

HT-392B

HT-392C

1.方塊電阻范圍sheet resistance

0.1~2.00×102Ω/□

0.1~2.00×103Ω/□

0.1~2.00×104Ω/□

2.電阻率范圍resistivity range

0.01~2×103Ω-cm

0.01~2×104Ω-cm

0.01~2×105Ω-cm

3.分辨率resolution

0.01Ω

0.01Ω

0.01Ω

4.顯示讀數(shù)display

液晶顯示:電阻率、方阻、單位換算、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 LCD: resistivity. sheet resistance. unit conversion. current.   voltage. probe shape. probe spacing. thickness

5.測試方式test mode

單電測量/ single electrical measurement

6.工作電源working power

5V.1000mA

7. 誤差errors

≤4.5%(標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果standard samples)

8.選配choose to buy

 選配1.方形探頭; 選配2.直線形探頭;探針間距;選配3:探針間距1mm;2mm;3mm三種規(guī)格; 選配4:探針材質(zhì):碳化鎢針;鍍金磷銅半球形針1.square probe; 2. linear probe; 3.Optional probe spacing: 1mm;2mm;3mm in three sizes.4.Select probe   material: tungsten carbide needle. gilded copper hemispherical needles.

 

HT-393系列手持式方塊電阻測試儀

技術(shù)參數(shù)資料

規(guī)格型號specification model

HT-393A

HT-393B

HT-393C

1.方塊電阻范圍sheet resistance

0.01~2.00×102Ω/□

0.01~2.00×103Ω/□

0.01~2.00×104Ω/□

2.電阻率范圍resistivity range

0.001~2×103Ω-cm

0.001~2×104Ω-cm

0.001~2×105Ω-cm

3.分辨率resolution

0.001Ω

0.001Ω

0.001Ω

4.顯示讀數(shù)display

液晶顯示:電阻率、方阻、單位換算、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 LCD: resistivity. sheet resistance. unit conversion. current.   voltage. probe shape. probe spacing. thickness

5.測試方式test mode

單電測量single electrical measurement

6.工作電源working power

5V.1000mA

7.誤差errors

≤4.5%(標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果standard samples)

8.選配choose to buy

 選配1.方形探頭; 選配2.直線形探頭;探針間距;選配3:探針間距1mm;2mm;3mm三種規(guī)格; 選配4:探針材質(zhì):碳化鎢針;鍍金磷銅半球形針1.square probe; 2. linear probe;

3.Optional probe spacing: 1mm;2mm;3mm in three sizes.4.Select probe   material: tungsten carbide needle. gilded copper hemispherical needles.

 

HT-394系列手持式四探針電阻率測試儀

技術(shù)參數(shù)資料

規(guī)格型號model

HT-394A

HT-394B

HT-394C

1.方塊電阻sheet resistance

0.001~2.00×102Ω/□

0.001~2.00×103Ω/□

0.001~2.00×104Ω/□

2.電阻率resistivity range

0.0001~2×103Ω-cm

0.0001~2×104Ω-cm

0.0001~2×105Ω-cm

3.分辨率resolution

0.001Ω

0.001Ω

0.001Ω

4.顯示讀數(shù)display

液晶顯示:電阻率、方阻、單位換算、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 LCD: resistivity. sheet resistance. unit conversion. current.   voltage. probe shape. probe spacing. thickness

5.測試方式test mode

單電測量single electrical measurement

6.工作電源working power

5V.1000mA

7.誤差machine uncertain errors

≤4.5%(標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果standard samples)

8.選配choose to buy

 選配1.方形探頭; 選配2.直線形探頭;探針間距;選配3:探針間距1mm;2mm;3mm三種規(guī)格; 選配4:探針材質(zhì):碳化鎢針;鍍金磷銅半球形針1.square probe; 2. linear probe;

3.Optional probe spacing: 1mm;2mm;3mm in three sizes.4.Select probe   material: tungsten carbide needle. gilded copper hemispherical needles.

 

適用范圍:

1.覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電*涂料,其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試

2.硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻  半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件,導(dǎo)電薄膜(ITO導(dǎo)電膜玻璃等),金屬膜,導(dǎo)電漆膜,蒸發(fā)鋁膜,PCB銅箔膜,

3.EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率  導(dǎo)電性油漆,導(dǎo)電性糊狀物,導(dǎo)電性塑料,導(dǎo)電性橡膠,導(dǎo)電性薄膜,金屬薄膜,

4.抗靜電材料, EMI 防護材料,導(dǎo)電性纖維,導(dǎo)電性陶瓷等,

 

功能描述:

1. 四探針單電測量方法

2. 液晶顯示,自動測量,自動量程,自動系數(shù)補償.

3. 集成電路系統(tǒng)、恒流輸出.

4. 提供中文或英文兩種語言操作界面選擇

 

參照標(biāo)準(zhǔn):

1.硅片電阻率測量的標(biāo)準(zhǔn)(ASTM F84).

2.GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》.

3.GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》.

4.GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》

 


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