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BKTEM-Dx熱電材料性能測(cè)試

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高低溫介電測(cè)量?jī)x

熱敏感材料測(cè)試儀

熱電器件性能測(cè)試儀

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非接觸式表面電壓測(cè)量?jī)x

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材料電阻測(cè)試系統(tǒng)

電卡效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)

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BKTEM-Dx熱電材料性能測(cè)試儀BKTEM-Dx熱電材料性能測(cè)試儀關(guān)鍵詞：熱電

詳細(xì)介紹

BKTEM-Dx熱電材料性能測(cè)試儀

BKTEM-Dx熱電材料性能測(cè)試儀

關(guān)鍵詞：熱電，Seebeck系數(shù)，電導(dǎo)率，電阻率，n或p型熱電材料π對(duì)熱電轉(zhuǎn)換效

產(chǎn)品介紹：

BKTEM-Dx熱電性能分析系統(tǒng)是一款自動(dòng)化熱電賽貝克系數(shù)測(cè)試儀，該儀器實(shí)現(xiàn)了一體化設(shè)計(jì)，

無需手動(dòng)，電腦軟件上可以直接抽真空，設(shè)置溫度，只要將樣品裝上之后，實(shí)現(xiàn)一鍵式的測(cè)量，

電阻率及各個(gè)表格能夠直觀出現(xiàn).

對(duì)于熱電材料的研究，熱電性能測(cè)試是的試驗(yàn)數(shù)據(jù)。BKD-Dx(x=1,2,3)系列可以精確地測(cè)定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率。主要原理和特點(diǎn)如下:

該裝置由高精度，高靈敏度溫度可控的電阻爐和控制溫度用的微型加熱源構(gòu)成。通過PID程序控溫，采用四點(diǎn)法的方式精確測(cè)定半導(dǎo)體材料及熱電材料的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率、電阻率。試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動(dòng)檢出。

一、測(cè)試原理

原理：（1）通過測(cè)量派對(duì)或器件開路電壓和短路電流求得派對(duì)或器件的輸出功率。（2）采用合適尺寸的溫差電熱流量計(jì)測(cè)量通過熱電派對(duì)或器件的熱流量，其溫差電熱流量計(jì)的工作原理是：當(dāng)對(duì)溫差電制冷片通電時(shí)，其一端降溫一端升溫，降溫端朝向熱電材料的冷端，升溫端連接恒溫的冷卻水（恒溫），利用經(jīng)過校準(zhǔn)的通過熱量計(jì)的高低溫端工作溫度--制冷量關(guān)系方程式求出不同溫度梯度下流經(jīng)溫差電熱流計(jì)的熱流量，即為通過派對(duì)或器件的熱流。（3）將輸出功率與通過的熱流相比求得轉(zhuǎn)換效率。

一、適用范圍：

1、碲化鉍類、碲化鉛類、碲化鍺類、方鈷礦類、電子晶體-聲子玻璃類、納米超晶格類、功能梯度類、Half-Heusler類熱電材料π對(duì)與器件的熱電轉(zhuǎn)換效率測(cè)試，用于精確測(cè)試、分析和研究?jī)蓚€(gè)相同或不相同的n或p型熱電材料π對(duì)的熱電轉(zhuǎn)換效率。（國(guó)內(nèi)）

2、精確地測(cè)定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅、鎳、鎢等金屬，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率、電阻率。

3、試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動(dòng)檢出。

4、擁有自身分析軟件，獨(dú)立分析，過程自動(dòng)控制，界面友好。

二、技術(shù)特點(diǎn)：

·解決高溫下溫控精度不準(zhǔn)的問題，更加直觀的了解產(chǎn)品熱電材料的真正物理屬性。

·熱電材料π對(duì)與器件的熱電轉(zhuǎn)換效率測(cè)試，用于精確測(cè)試、分析和研究?jī)蓚€(gè)相同或不相同的n或p型熱電材料π對(duì)的熱電轉(zhuǎn)換效率。

· 溫度檢測(cè)可采用J、K型熱電偶，降低測(cè)試成本。

·試樣采用的焊偶機(jī)構(gòu)，保證接觸電阻最小以及測(cè)量結(jié)果的高重現(xiàn)性。

· 每次可測(cè)試1-3個(gè)樣品.

· 采用高級(jí)數(shù)據(jù)采集技術(shù)，避免電路板數(shù)據(jù)采集技術(shù)帶來的干擾誤差，可控溫場(chǎng)下同步測(cè)量賽貝克系數(shù)和電阻率。

· 具備真空和Ar氣保護(hù)兩種工況選項(xiàng)。

四、主要技術(shù)參數(shù)：

	BKTEM-D1	BKTEM-D2	BKTEM-D3
測(cè)量溫度	室溫-600℃	室溫-600℃	室溫-600℃
同時(shí)測(cè)試樣品數(shù)量	1個(gè)	2個(gè)	3個(gè)
控溫精度	0.5K（溫度波動(dòng):≤±0.1℃）
熱流量測(cè)量	采用溫差電熱流計(jì)測(cè)量流經(jīng)試樣卻沒有被轉(zhuǎn)換的熱流
測(cè)量原理	塞貝克系數(shù)：靜態(tài)直流電；電阻系數(shù)：四端法
測(cè)量范圍	塞貝克系數(shù)：0.5μV/K_25V/K；電阻系數(shù)：0.2Ohm-2.5KOhm
分辨率	塞貝克系數(shù)：10nV/K;電阻系數(shù)： 10nOhm
測(cè)量精度	塞貝克系數(shù)：＜±6％；電阻系數(shù)：＜±5％
樣品尺寸	方條形：2-3×2-3 mm×10-23mm長(zhǎng)
熱電偶導(dǎo)距	≥6 mm
電流	0 to 160 mA
氣氛	減壓He（具備真空和Ar氣保護(hù)兩種工況選項(xiàng)，真空工況下，真空度：≤6×10^-2 Pa；）
加熱電極相數(shù)/電壓	單相，220V，
熱電轉(zhuǎn)換效率輸出功率	0.01W~10W
夾具接觸熱阻	≤0.05 m²K/W，夾具界面石墨或Ag化處理

圖1 單一樣品測(cè)試系統(tǒng)原理示意圖

圖2 雙樣品測(cè)試系統(tǒng)原理示意圖

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