膠砂試體成型振實臺操作規(guī)程榮計達(dá)ZT-96
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產(chǎn)品型號EM-AFM
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地上海
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更新時間:2025-05-12 11:11:32瀏覽次數(shù):44次
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EM-AFM可在SEM中同時提供原子力顯微鏡成像和納米機械測量。它綜合了這兩種技術(shù)的優(yōu)點,可高速獲得高分辨率的三維圖像,并且在微納米和亞納米尺度上實時觀察納米級力的相互作用,與常規(guī)SEM/FIB兼容,并與EDS, EBSD, WSD兼容。
主要功能
EM-AFM可在SEM中同時提供原子力顯微鏡成像和納米機械測量。它綜合了這兩種技術(shù)的優(yōu)點,可進(jìn)行形貌掃描、3D成像、納米壓痕/納米拉伸測試等。
l 技術(shù)特點
同時獲得AFM和SEM成像
與主流掃描電鏡兼容
樣品更換簡單
超高分辨率形貌掃描
用納米壓痕法測量納米力
操作穩(wěn)定性高,不受SEM電子束干擾
真空載鎖兼容
技術(shù)能力
三、應(yīng)用
。
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