通信電纜 網(wǎng)絡(luò)設(shè)備 無線通信 云計算|大數(shù)據(jù) 顯示設(shè)備 存儲設(shè)備 網(wǎng)絡(luò)輔助設(shè)備 信號傳輸處理 多媒體設(shè)備 廣播系統(tǒng) 智慧城市管理系統(tǒng) 其它智慧基建產(chǎn)品
伯東企業(yè)（上海）有限公司
伯東企業(yè)（上海）有限公司
閱讀：1發(fā)布時間：2025-3-22
inTEST 熱流儀存儲芯片高低溫測試
存儲器芯片是半導(dǎo)體存儲產(chǎn)品的核心, 是電子系統(tǒng)中負(fù)責(zé)數(shù)據(jù)存儲的核心硬件單元, 存儲芯片在出廠時需要測試芯片在快速變溫過程中的穩(wěn)定性, 上海伯東美國 inTEST Temtronic 熱流儀提供 -100°C 至 +300°C 快速溫度沖擊范圍, 滿足 Flash 及 DRAM 存儲器的研發(fā)設(shè)計需求, 為存儲芯片提供快速可靠的測試環(huán)境.
上海伯東存儲器芯片高低溫沖擊測試案例
客戶: 某存儲芯片設(shè)計公司, 主要產(chǎn)品 Flash 及 DRAM 存儲器
測試設(shè)備: inTEST ATS-710-M 搭配愛德萬 Advantest 內(nèi)存 IC 測試系統(tǒng)
測試目的: 研發(fā)中存儲芯片的運作特性, 同時可用于失效芯片在不同溫度下的快速故障診斷.
存儲器芯片高低溫測試方法: inTEST 熱流儀溫度區(qū)間設(shè)置為 125℃ 至 -55℃, 快速實現(xiàn)溫度下閃存的運作特性, 如電壓, 電流等. 閃存多采用 inTEST DUT mode 即 Device under test 模式來進行高低溫循環(huán)測式, 將閃存與 inTEST ATS-710-M 使用 T type Thermocouple 相互連接, 如此即可精確掌控受測物達到機臺所設(shè)定之溫度. 閃存高低溫測試方法同樣適合內(nèi)嵌式記憶體 eMMC 溫度測試.
inTEST Temtronic ATS-710 熱流儀技術(shù)參數(shù)
型號 | 溫度范圍 °C | 輸出氣流量 | 變溫速率 | 溫度 | 溫度顯示 | 溫度 | 遠(yuǎn)程 |
ATS-710E | -75至+225 50Hz | 4 至18 scfm | -55至 +125°C 約 10 s | ±1℃ | ±0.1℃ | T型或 | IEEE 488 |
若您需要進一步的了解 inTEST 熱流儀詳細(xì)信息或討論, 請參考以下聯(lián)絡(luò)方式：
上海伯東: 葉小姐 中國臺灣伯東: 王小姐
T: +86-21-5046-3511 ext 107 T: +886-3-567-9508 ext 161
F: +86-21-5046-1490 F: +886-3-567-0049
M: +86 1391-883-7267 ( 微信同號 ) M: +886-975-571-910
.tw
現(xiàn)部分品牌誠招合作代理商, 有意向者歡迎聯(lián)絡(luò)上海伯東 葉小姐 1391-883-7267
上海伯東版權(quán)所有, 翻拷必究！
智慧城市網(wǎng) 設(shè)計制作，未經(jīng)允許翻錄必究 .? ? ?
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼