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閱讀:123發(fā)布時(shí)間:2021-11-29
試片用于驗(yàn)證磁粉檢測綜合性能(系統(tǒng)靈敏度)。A型試片,適用于在較寬大或平整的被檢表面上使用:C型和D型試片,適用于較窄小或彎曲的被檢表面。高靈敏度的試片,用于驗(yàn)證要求有較高檢測靈敏度的磁粉檢測綜合性能,低靈敏度試片,用于驗(yàn)證要求較低檢測靈敏度的磁粉檢測綜合性能。只有符合要求的磁粉檢測綜合性能,相應(yīng)的磁粉檢測結(jié)果才是有效的和可靠的。
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