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英國abi電路板故障檢測儀

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產(chǎn)品型號(hào)ABI-2400

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更新時(shí)間：2023-07-22 13:39:34瀏覽次數(shù)：329次

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產(chǎn)品簡介

強(qiáng)大的測試功能特點(diǎn)：1)適合各種類型的測試,模擬及數(shù)字集成電路及各種分立器件的測試2)可進(jìn)行在線或離線測試與分析3)具有24路測試通道，也可使用探棒進(jìn)行巡檢測試，針對各種類型的封裝元件進(jìn)行測試

詳細(xì)介紹

強(qiáng)大的測試功能特點(diǎn)：

1)適合各種類型的測試,模擬及數(shù)字集成電路及各種分立器件的測試

2)可進(jìn)行在線或離線測試與分析

3)具有24路測試通道，也可使用探棒進(jìn)行巡檢測試，針對各種類型的封裝元件進(jìn)行測試。

4)安全性高的無電源測量方式，不用給電路板加電，系統(tǒng)自動(dòng)施加各種類型的測試條件，可能地保證測試安全。

5)多種測試類型：1)簡單類型V-I曲線測試，針對固定某一管腳的不同管腳的測試，2)矩陣式V-I曲線測試模式, 可針對管腳間的阻抗曲線進(jìn)行測試。提供了豐富的測試信息，保證的測試的可靠性。

6)在進(jìn)行離線測試時(shí), 可針對蕊片內(nèi)部進(jìn)行阻抗分析

7)自動(dòng)對比及儲(chǔ)存V-I曲線,以備日后調(diào)取，方便了元件庫的建立

8)可切換VI,VT及IT三種顯示模式, 可配合不同功能型式的FET元器件

9)可設(shè)定同步脈沖信號(hào)的寬度, 進(jìn)行可控規(guī)元器件或FET的功能測試

10)可進(jìn)行光耦合及繼電器元器件的速度功能測試

11)具有二組信號(hào)源, 可輸出直流信號(hào), 針對光耦合器及繼電器進(jìn)行穩(wěn)態(tài)測試.

12)顯示相似度百分比，具有業(yè)界中最多的信號(hào)頻率調(diào)整檔位, 對于故障的查找有相當(dāng)?shù)膸椭?

13)測試頻率高達(dá)到12kHz, 非常合適測試電感及高頻電容器件

14)系統(tǒng)具備自動(dòng)信號(hào)補(bǔ)償功能, 可針對測試環(huán)境及夾具進(jìn)行自校測試, 以防止量測信號(hào)失真.

15)可進(jìn)行維修日志的編寫，將維修記錄長期保存，以備日后查看。

16)可由軟件加入圖片, 用來清楚的表示被測元件的位置及電路板樣式.

17)可選擇利用USB或PCI通訊接口來進(jìn)行儀器的操作, 也可安裝在PC內(nèi)來節(jié)省所占的空間.

全功能V-I測試模塊2400

全功能V-I測試儀

是一個(gè)經(jīng)由計(jì)算機(jī)控制來針對各類元器件進(jìn)行V-I測試的模塊.

其大小與一個(gè)CD-ROM的大小相同, 所以它可以被安裝在個(gè)人計(jì)算機(jī)之中或是另外選配的外接盒之中.

而這是一個(gè)包含好壞電路板實(shí)時(shí)對比的全面性電路板故障檢測功能.

SYSTEM 8的全功能V-I測試模塊可*的由客戶來設(shè)定其測試的各種參數(shù).

用戶可依照不同的組件性來設(shè)定信號(hào)波形參數(shù).即便是波形的顏色或是背景的顏色,也可以依照用戶的需求來進(jìn)行來自行設(shè)定.

這是一個(gè)良好電容器的基本V-I圖形,可以利用實(shí)時(shí)對比通道來進(jìn)行波形比對,可依比對的相似度來判定是否為故障組件的圖形.

可利用實(shí)時(shí)雙信道對比模式來實(shí)時(shí)比對二點(diǎn)不同通道的波形差異度.可利用此方式來分辯好板壞板上各點(diǎn)量測波形的相似度,進(jìn)而找到故障的組件.而此方式適合剛?cè)腴T的檢修工程人員來使用.

此模塊還提供了二個(gè)同步脈波輸出信號(hào),可提供MOSFET或門流體的觸發(fā)信號(hào).而其脈沖寬度, 信號(hào)極性及觸發(fā)角度皆可設(shè)置.

功能強(qiáng)大的矩陣掃描式VI曲線量測方式.它可分別依序?qū)⒏鞴苣_作為一信號(hào)的基準(zhǔn)點(diǎn),再對其它的管腳作VI曲線量測.此功能會(huì)比一般的VI曲線量測更精準(zhǔn),更快速.

可同時(shí)顯示多組波形在同一個(gè)顯示窗內(nèi).此方式可同時(shí)檢視多個(gè)通道的比對結(jié)果.或是點(diǎn)選放大其中一個(gè)波形來進(jìn)行故障波形分析.

V-I 測試能力

量測通道:24 多任務(wù)信道+2實(shí)時(shí)對比通道+2同步脈沖信號(hào)信道

信號(hào)電壓范圍:2 V to 50 V peak to peak

電壓分辨率:8 to 12 bits

信號(hào)頻率范圍:37.5 Hz to 12 kHz

信號(hào)電流范圍:1 µA to 150 mA

信號(hào)阻抗范圍:100 Ohm to 1 M

測試信號(hào)波形:Sine, square, triangle, ramp, pulse

顯示圖形模式:V-I, V-T, I-T

量測波形自動(dòng)對比功能:可利用實(shí)時(shí)量測雙通道來自動(dòng)實(shí)時(shí)對比好壞組件的波形,或是將波形進(jìn)行存儲(chǔ)之后,再進(jìn)行比對工作.

同步脈沖輸出模式:正向(Positive), 負(fù)向(negative)或雙向(bipolar)波形

同步信號(hào)振幅:可調(diào)式由+10 V~-10V

信號(hào)校正:自動(dòng)

附件(Accessories)

標(biāo)準(zhǔn)附件

1x24通道DIL測試夾

1x24通道測試線

2x接地線

2x同步脈沖測試線

1x藍(lán)色V-I測試探棒

1x黃色V-I測試探棒

1x雙信道貼片組件測試夾具

選購附件(Options)

適配卡:PCI interface

獨(dú)立的外接盒:可選配使用USB接口的獨(dú)立式外接盒.

VI曲線的定義

V-I曲線測試是一種針對模擬及數(shù)字電路且可靠度高的測試方法.其測試方式是透過輸出電壓信號(hào)通過被測組件上所形成的電流信號(hào),而定義出該被測節(jié)點(diǎn)的阻抗.

而經(jīng)由連續(xù)的電壓-電流信號(hào)的變化所產(chǎn)生的阻抗測試數(shù)據(jù),將此一連續(xù)的測試數(shù)據(jù)繪制成一曲線,此為被測組件的V-I曲線. 通?？衫靡阎玫碾娐钒迳系腣-I曲線,來比對待測的電路板或組件,可達(dá)到快速故障診斷的目的.而這項(xiàng)測試技術(shù)最主要的優(yōu)勢是在于不需為電路板或組件加電,即可直接進(jìn)行比對測試.所以,即使是無法動(dòng)作的電路板也可以進(jìn)行故障檢測工作.