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變頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀使用中測(cè)試數(shù)據(jù)明顯不合理從這幾方面找原因

閱讀:246          發(fā)布時(shí)間:2021-11-10
  如果變頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀在使用中出現(xiàn)測(cè)試數(shù)據(jù)明顯不合理,請(qǐng)從以下方面查找原因:
 
  1搭鉤接觸不良
 
  現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量使用搭鉤連接試品時(shí),搭鉤務(wù)必與試品接觸良好,否則接觸點(diǎn)放電會(huì)引起數(shù)據(jù)嚴(yán)重波動(dòng)!尤其是引流線(xiàn)氧化層太厚,或風(fēng)吹線(xiàn)擺動(dòng),易造成接觸不良。
 
  2接地接觸不良
 
  接地不良會(huì)引起儀器保護(hù)或數(shù)據(jù)嚴(yán)重波動(dòng)。應(yīng)刮凈接地點(diǎn)上的油漆和銹蝕,務(wù)必保證0電阻接地!
 
  4.3直接測(cè)量CVT或末端屏蔽法測(cè)量電磁式PT
 
  直接測(cè)量CVT的下節(jié)耦合電容會(huì)出現(xiàn)負(fù)介損,應(yīng)改用自激法。
 
  用末端屏蔽法測(cè)量電磁式PT時(shí),由于受潮引起“T形網(wǎng)絡(luò)干擾”出現(xiàn)負(fù)介損,吹干下面三裙瓷套和接線(xiàn)端子盤(pán)即可。也可改用常規(guī)法或末端加壓法測(cè)量。
 
  4.4空氣濕度過(guò)大
 
  空氣濕度大使介損測(cè)量值異常增大(或減小甚至為負(fù))且不穩(wěn)定,必要時(shí)可加屏蔽環(huán)。因人為加屏蔽環(huán)改變了試品電場(chǎng)分布,此法有爭(zhēng)議,可參照有關(guān)規(guī)程。
 
  4.5發(fā)電機(jī)供電
 
  發(fā)電機(jī)供電時(shí)輸入頻率不穩(wěn)定,可采用定頻50Hz模式工作。
 
  4.6測(cè)試線(xiàn)
 
  由于長(zhǎng)期使用,易造成測(cè)試線(xiàn)隱性斷路,或芯線(xiàn)和屏蔽短路,或插頭接觸不良,用戶(hù)應(yīng)經(jīng)常維護(hù)測(cè)試線(xiàn);
 
  測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)電容試品時(shí),應(yīng)使用全屏蔽插頭連接,以消除附加雜散電容影響,否則不能反映出儀器精度;
 
  自激法測(cè)量CVT時(shí),非的高壓線(xiàn)應(yīng)吊起懸空,否則對(duì)地附加雜散電容和介損會(huì)引起測(cè)量誤差。
 
  4.7工作模式選擇
 
  接好線(xiàn)后請(qǐng)選擇正確的測(cè)量工作模式(正、反和CVT),不可選錯(cuò)。特別是干擾環(huán)境下應(yīng)選用變頻抗干擾模式。
 
  4.8試驗(yàn)方法影響
 
  由于介損測(cè)量受試驗(yàn)方法影響較大,應(yīng)區(qū)分是試驗(yàn)方法誤差還是儀器誤差。出現(xiàn)問(wèn)題時(shí)可首先檢查接線(xiàn),然后檢查是否為儀器故障。
 
  4.9儀器故障
 
  用萬(wàn)用表測(cè)量一下測(cè)試線(xiàn)是否斷路,或芯線(xiàn)和屏蔽是否短路;輸入電源220V過(guò)高或過(guò)低;接地是否良好。
 
  用正、反接線(xiàn)測(cè)一下標(biāo)準(zhǔn)電容器或已知容量和介損的電容試品,如果結(jié)果正確,即可判斷儀器沒(méi)有問(wèn)題;
 
  拔下所有測(cè)試導(dǎo)線(xiàn),進(jìn)行空試升壓,若不能正常工作,儀器可能有故障。
 
  啟動(dòng)CVT測(cè)量后測(cè)量低壓輸出,應(yīng)出現(xiàn)2~5V電壓,否則儀器有故障。
 

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