華測(cè)高溫鐵電測(cè)試儀用于鐵電體的鐵電性能測(cè)量，可用于鐵電體的科學(xué)研究及近代物理實(shí)驗(yàn)中的固體物理實(shí)驗(yàn)以及工業(yè)化生產(chǎn)鐵電存儲(chǔ)器的鐵電性能檢測(cè)中。本華測(cè)高溫鐵電測(cè)試儀測(cè)試系統(tǒng)主要包括可編程信號(hào)源、微電流放大器、積分器、放大倍數(shù)可編程放大器、模/數(shù)轉(zhuǎn)換器數(shù)/模轉(zhuǎn)化器、微機(jī)接口部分、微機(jī)和應(yīng)用軟件等部分組成。華測(cè)高溫鐵電測(cè)試儀鐵電疲勞性能測(cè)量

詳細(xì)介紹

高溫鐵電測(cè)試儀

產(chǎn)品名稱：高溫鐵電測(cè)試儀

產(chǎn)品型號(hào)：HCTD-800

品牌：北京華測(cè)

產(chǎn)品介紹

高溫鐵電測(cè)試儀用于鐵電體的鐵電性能測(cè)量，可用于鐵電體的科學(xué)研究及近代物理實(shí)驗(yàn)中的固體物理實(shí)驗(yàn)以及工業(yè)化生產(chǎn)鐵電存儲(chǔ)器的鐵電性能檢測(cè)中。本測(cè)試系統(tǒng)主要包括可編程信號(hào)源、微電流放大器、積分器、放大倍數(shù)可編程放大器、模/數(shù)轉(zhuǎn)換器數(shù)/模轉(zhuǎn)化器、微機(jī)接口部分、微機(jī)和應(yīng)用軟件等部分組成。

本測(cè)試系統(tǒng)采用虛地模式測(cè)量電路，與傳統(tǒng)的Sawyer-Tower模式相比，此電路取消了外接電容，可減小寄生元件的影響。此電路的測(cè)試精度僅取決于積分器積分電容的精度，減少了對(duì)測(cè)試的影響環(huán)節(jié)，比較容易定標(biāo)和校準(zhǔn)，并且能實(shí)現(xiàn)較高的測(cè)量準(zhǔn)確度，它不僅能畫出鐵電薄膜的電滯回線，還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化ps、剩余極化Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流Ik等參數(shù)，以及對(duì)鐵電薄膜材料鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的測(cè)試。能夠較quan面準(zhǔn)確地測(cè)量鐵電薄膜的鐵電性能。儀器采用一體化設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)測(cè)試結(jié)果全數(shù)字化，操作簡(jiǎn)單方便。

鐵電材料參數(shù)測(cè)試儀主要是由正弦波、三角波、間歇三角波、梯形波發(fā)生器及正、負(fù)矩形脈沖和雙極性雙脈沖發(fā)生器外加鐵電材料電滯回線、I-V特性及開關(guān)特性測(cè)量電路構(gòu)成。適用于鐵電薄膜、鐵電體材料的電性能測(cè)量，可測(cè)量鐵電薄膜電滯回線、I-V特性及開關(guān)特性，可準(zhǔn)確地測(cè)出具有非對(duì)稱電滯回線鐵電薄膜的Pr值?？蓽y(cè)鐵電體材料的電滯回線及IV特性。同時(shí)也可作為一臺(tái)通用信號(hào)發(fā)生器、高壓信號(hào)發(fā)生器使用。

產(chǎn)品特點(diǎn)

電滯回線測(cè)量、鐵電材料的飽和極化±Ps、剩余極化±Pr、矯頑場(chǎng)±Ec、電容量C等參數(shù)
鐵電疲勞性能測(cè)量
鐵電保持性能測(cè)量
電阻測(cè)量
漏電流測(cè)量
高精度三維移動(dòng)平臺(tái)

軟件功能

HC5000系列測(cè)試系統(tǒng)的軟件平臺(tái)hacepro,采用labview系統(tǒng)開發(fā)，符合導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料的各項(xiàng)測(cè)試需求，具備強(qiáng)大的穩(wěn)定性與安全性，并具備斷電資料的保存功能，圖像資料可保存恢復(fù)，支持新的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。兼容，XP、win7、win10系統(tǒng)。

友善的使用界面

多語(yǔ)界面：支持中文/英文兩種語(yǔ)言界面；

即時(shí)監(jiān)控：系統(tǒng)測(cè)試狀態(tài)即時(shí)瀏覽，無需等待；

圖例管理：通過軟件中的狀態(tài)圖示，一目了然，立即對(duì)狀態(tài)說明，了解測(cè)試狀態(tài)；

使用權(quán)限：可設(shè)定使用者的權(quán)限，方便管理；

故障狀態(tài)：軟件具有設(shè)備的故障報(bào)警功能。

硬件支持