當(dāng)研發(fā)工程團(tuán)隊(duì)成功開發(fā)新的電子產(chǎn)品時(shí)，在批量生產(chǎn)之前應(yīng)進(jìn)行大量測試。盡管HBM和IEC 61000-4-2是使用更廣泛的標(biāo)準(zhǔn)，但近年來一些品牌制造商要求進(jìn)行TLP（傳輸線脈沖）測試。即使測試方法不同，所有這些測試標(biāo)準(zhǔn)都旨在確保電子產(chǎn)品的可靠性。在出廠前通過更嚴(yán)格的ESD測試標(biāo)準(zhǔn)測試的電子產(chǎn)品可以在更廣泛的應(yīng)用中使用。無論是在潮濕的國家還是在容易導(dǎo)致靜電積聚的干燥寒冷的地區(qū)使用，環(huán)境因素都不會(huì)影響消費(fèi)者的使用體驗(yàn)。這也是增加消費(fèi)者對該品牌的信心和信任的有效途徑。
HBM測試用于模擬人體釋放到半導(dǎo)體組件的放電。當(dāng)前，大多數(shù)集成電路在出廠前已經(jīng)通過了HBM測試。系統(tǒng)組裝完成后，將執(zhí)行系統(tǒng)級ESD測試-IEC 61000-4-2。根據(jù)IEC 61000-4-2的RC（電阻/電容）模塊和靜電放電為150 pF / 330Ω，而每個(gè)HBM為100 pF / 1500Ω。這說明系統(tǒng)級別的IEC 61000-4-2標(biāo)準(zhǔn)具有更大的電容和更低的放電電阻，計(jì)算后的測試電流約為HBM測試的5倍。這就是為什么即使IC在出廠時(shí)就已經(jīng)進(jìn)行了HBM測試，它仍需要額外的ESD保護(hù)組件（TVS）來幫助系統(tǒng)在組裝后通過IEC 61000-4-2標(biāo)準(zhǔn)。
傳輸線脈沖（TLP）是一種用于靜電放電（ESD）領(lǐng)域的測量技術(shù)，用于表征在短脈沖寬度和快速上升時(shí)間（類似于ESD事件）的壓力下器件的性能屬性。 TLP適用于IEC 61000-4-2定義的系統(tǒng)級ESD和ANSI / ESDA / JEDECJS-001-2010定義的集成電路級HBM。TLP的主要用途之一是獲取電流與電壓（IV）數(shù)據(jù)，其中每個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)均來自反映ESD波形特征的脈沖：上升時(shí)間為納秒，脈沖寬度為100 ns。TLP中使用的100 ns脈沖長度和高達(dá)40 A的電流水平與ESD事件中出現(xiàn)的脈沖長度和電流非常匹配。圖1比較了IEC 61000-4-2和人體模型(HBM)在8 kV下的電流波形和TLP在8 A和16 A下的脈沖。很明顯，時(shí)間尺度和電流水平的相似性使TLP成為表征電子元件ESD特性的理想工具。本文將描述基本的TLP測量系統(tǒng)，解釋如何使用TLP系統(tǒng)獲得I-V曲線，然后展示一些TLP系統(tǒng)如何用于表征ESD保護(hù)產(chǎn)品的例子，如TVS器件。
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