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技術(shù)文章

影響RFID系統(tǒng)測試性能的因素有哪些?

閱讀:1877發(fā)布時間:2021-2-24

  UHF RFID的系統(tǒng)由讀寫器、天線、RFID標簽組成。
 
  因素:讀寫器發(fā)射功率
 
  讀寫器發(fā)射功率越大,讀寫距離相應(yīng)得也會增大。
 
  因素:讀寫器天線增益和波束寬度
 
  天線增益越大,波束寬度越小,則讀寫距離越遠,范圍越窄,讀取的范圍控制越好。
 
  因素:讀寫器與標簽的靈敏度
 
  標簽芯片與讀寫器的靈敏度均能影響到讀寫距離,靈敏度越高,可讀寫距離就會越遠。
 
  因素:多標簽數(shù)量
 
  多標簽環(huán)境下,單位時間內(nèi)RFID讀取的標簽數(shù)量也會影響到讀寫器的多標簽讀寫性能。
 
  因素:讀寫器對碰撞問題的處理算法
 
  一般來說,標簽存在以下兩種碰撞問題:
 
  1、多標簽碰撞:多個標簽與一個讀寫器通訊時產(chǎn)生的碰撞,出現(xiàn)此種情況時可以通過調(diào)整讀寫器自身的防碰撞算法來解決。
 
  2、多讀寫器碰撞:多個讀寫器同時與一個標簽通訊時產(chǎn)生的碰撞,通過將讀寫器設(shè)置成不同的session(通話)和標簽進行通信或者測試時關(guān)閉其他讀寫器即可解決。
 
  因素:標簽粘貼物材質(zhì)
 
  金屬和液體會對電磁波產(chǎn)生影響,需要采用特殊設(shè)計的抗金屬標簽和抗液體標簽:
 
  液體應(yīng)用——必須采用特殊設(shè)計的液體標簽;
 
  金屬表面——必須使用抗金屬標簽;
 
  如遇到這兩種材質(zhì)的標簽也可以采用立標——標簽不直接粘貼到金屬或液體容器表面,芯片和天線部分與容器不接觸,同時在液體和金屬應(yīng)用中需要注意物品的擺放方式,堆疊過多會導(dǎo)致內(nèi)層讀取率低。
 
  因素:測試環(huán)境
 
  RFID性能測試建議在空曠的環(huán)境中進行,讀寫器天線與標簽之間存在金屬或液體之類的障礙物、環(huán)境中存在與頻率接近的電磁干擾等都會影響測試性能。
 
  首先要確認測試環(huán)境中是否有金屬障礙物干擾,如金屬網(wǎng),密集的金屬網(wǎng)會對UHF信號產(chǎn)生屏蔽作用,造成較大衰減,導(dǎo)致無法讀取標簽信息。
 
  其次,如果在貨物滿倉的庫房中則需要考慮貨物性質(zhì)(金屬、液體、服裝等)是否會影響電磁波,也需要避免多層堆放,同時RFID設(shè)備應(yīng)與其他物品保持距離,避免串讀。
 
  以上是影響RFID系統(tǒng)測試性能的若干因素,如果您在測試過程中遇到性能受影響的情況,不妨對照檢查,希望能讓您的RFID測試過程更加順暢!

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