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電介質(zhì)材料介電性能試驗(yàn)儀

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

電介質(zhì)材料介電性能試驗(yàn)儀所有接插件均為屏蔽接插口,有效的提高了儀器的測(cè)量精度,是專(zhuān)為實(shí)驗(yàn)室測(cè)試研制的新型介電常數(shù)介損測(cè)試儀測(cè)試儀,廣泛的應(yīng)用到絕緣材料的介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的測(cè)試??梢栽诩訅?,加溫,真空條件下,在工頻電壓下對(duì)各類(lèi)固體絕緣材料(如聚苯乙烯,聚丙烯,電容紙等)的試品作介質(zhì)損耗因數(shù),相對(duì)介電常數(shù)測(cè)量。在外接電流互感器(量程擴(kuò)展器)1000/1=1000倍的情況下,可以測(cè)試大電流高壓電器的介

詳細(xì)介紹

電介質(zhì)材料介電性能的測(cè)試

實(shí)驗(yàn)?zāi)康摹?/span>

1、探討介質(zhì)極化與介電常數(shù)、介質(zhì)損耗的關(guān)系;

2、了解高頻Q表的工作原理;

3、掌握室溫下用高頻Q表測(cè)定材料的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值。

【實(shí)驗(yàn)儀器】

1、儀器設(shè)備:

(1)介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀、電感箱、樣品夾具等;

(2) 千分游標(biāo)卡尺;

(3)導(dǎo)電銀漿;

2、樣品要求:圓形片:厚度2±0.5mm,直徑為Φ38±1mm。

【實(shí)驗(yàn)原理】

按照物質(zhì)電結(jié)構(gòu)的觀點(diǎn),任何物質(zhì)都是由不同的電荷構(gòu)成,而在電介質(zhì)中存在原子、分子和離子等。當(dāng)固體電介質(zhì)置于電場(chǎng)中后會(huì)顯示出一定的極性,這個(gè)過(guò)程稱(chēng)為極化。對(duì)不同的材料、溫度和頻率,各種極化過(guò)程的影響不同。

1、介電常數(shù)(ε):某一電介質(zhì)(如硅酸鹽、高分子材料)組成的電容器在一定電壓作用下所得到的電容量C與同樣大小的介質(zhì)為真空的電容器的電容量C之比值,被稱(chēng)為該電介質(zhì)材料的相對(duì)介電常數(shù)。

式中:C—電容器兩極板充滿介質(zhì)時(shí)的電容;

Cο—電容器兩極板為真空時(shí)的電容;

ε—電容量增加的倍數(shù),即相對(duì)介電常數(shù)

介電常數(shù)的大小表示該介質(zhì)中空間電荷互相作用減弱的程度。作為高頻絕緣材料,ε要小,特別是用于高壓絕緣時(shí)。在制造高電容器時(shí),則要求ε要大,特別是小型電容器。

在絕緣技術(shù)中,特別是選擇絕緣材料或介質(zhì)貯能材料時(shí),都需要考慮電介質(zhì)的介電常數(shù)。此外,由于介電常數(shù)取決于極化,而極化又取決于電介質(zhì)的分子結(jié)構(gòu)和分子運(yùn)動(dòng)的形式。所以,通過(guò)介電常數(shù)隨電場(chǎng)強(qiáng)度、頻率和溫度變化規(guī)律的研究,還可以推斷絕緣材料的分子結(jié)構(gòu)。

2.介電損耗(tgδ):指電介質(zhì)材料在外電場(chǎng)作用下發(fā)熱而損耗的那部分能量。在直流電場(chǎng)作用下,介質(zhì)沒(méi)有周期性損耗,基本上是穩(wěn)態(tài)電流造成的損耗;在交流電場(chǎng)作用下,介質(zhì)損耗除了穩(wěn)態(tài)電流損耗外,還有各種交流損耗。由于電場(chǎng)的頻繁轉(zhuǎn)向,電介質(zhì)中的損耗要比直流電場(chǎng)作用時(shí)大許多(有時(shí)達(dá)到幾千倍),因此介質(zhì)損耗通常是指交流損耗。

在工程中,常將介電損耗用介質(zhì)損耗角正切tgδ來(lái)表示。tgδ是絕緣體的無(wú)效消耗的能量對(duì)有效輸入的比例,它表示材料在一周期內(nèi)熱功率損耗與貯存之比,是衡量材料損耗程度的物理量。

tg

式中:ω—電源角頻率;

R—并聯(lián)等效交流電阻;

C—并聯(lián)等效交流電容器

凡是體積電阻率小的,其介電損耗就大。介質(zhì)損耗對(duì)于用在高壓裝置、高頻設(shè)備,特別是用在高壓、高頻等地方的材料和器件具有特別重要的意義,介質(zhì)損耗過(guò)大,不僅降低整機(jī)的性能,甚至?xí)斐山^緣材料的熱擊穿。

3、Q值:tgδ的倒數(shù)稱(chēng)為品質(zhì)因素,或稱(chēng)Q值。Q值大,介電損失小,說(shuō)明品質(zhì)好。所以在選用電介質(zhì)前,必須首先測(cè)定它們的ε和tgδ。而這兩者的測(cè)定是分不開(kāi)的。

通常測(cè)量材料介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切的方法有二種:交流電橋法和Q表測(cè)量法,其中Q表測(cè)量法在測(cè)量時(shí)由于操作與計(jì)算比較簡(jiǎn)便而廣泛采用。本實(shí)驗(yàn)主要采用的是Q表測(cè)量法。

Q表的測(cè)量回路是一個(gè)簡(jiǎn)單的RLC回路,如圖1所示。當(dāng)回路兩瑞加上電壓V后,電容器C的兩端電壓為Vc,調(diào)節(jié)電容器C使回路諧振后,回路的品質(zhì)因數(shù)Q就可以用下式表示:

式中:L—回路電感;

R—回路電阻;

Vc—電容器C兩端電壓;

V—回路兩端電壓;

1 Q表測(cè)量原理圖

由上式可知,當(dāng)輸入電壓V不變時(shí),則QVc成正比。因此在一定輸入下,Vc值可直接標(biāo)示為Q值。Q值表即根據(jù)這一原理來(lái)制造。

4STDA陶瓷介質(zhì)損耗角正切及介電常數(shù)測(cè)試儀:它由穩(wěn)壓電源、高頻信號(hào)發(fā)生器、定位電壓表CBl、Q值電壓表CB2、寬頻低阻分壓器以及標(biāo)準(zhǔn)可調(diào)電容器等組成(2)。工作原理如下:高頻信導(dǎo)發(fā)生器的輸出信號(hào),通過(guò)低阻抗耦合線圈將信號(hào)饋送至寬頻低阻抗分壓器。輸出信號(hào)幅度的調(diào)節(jié)是通過(guò)控制振蕩器的簾柵極電壓來(lái)實(shí)現(xiàn)。當(dāng)調(diào)節(jié)定位電壓表CBl指在定位線上時(shí),Ri兩端得到約l0mV的電壓(Vi)。當(dāng)Vi調(diào)節(jié)在一定數(shù)值(10mV)后,可以使測(cè)量Vc的電壓表CB2直接以Q值刻度,即可直接的讀出Q值,而不必計(jì)算。

2 Q表測(cè)量電路圖

經(jīng)推導(dǎo)(1) 介電常數(shù):

(1)

式中:C1—標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)下的電容量;

C2—樣品測(cè)試的電容量;

d—試樣的厚度(cm)

Φ—試樣的直徑(cm);

(2) 介質(zhì)損耗角正切:

(2)

式中:Q1—標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)下的Q值;

Q2—樣品測(cè)試的Q值;

(3) Q值:

(3)

【實(shí)驗(yàn)內(nèi)容】

1、本儀器適用于110V/220V50Hz交流電,使用前要檢查電壓情況,以保證測(cè)試條件的穩(wěn)定。

2、開(kāi)機(jī)預(yù)熱15分鐘,使儀器恢復(fù)正常狀態(tài)后才能開(kāi)始測(cè)試。

3、按部件標(biāo)準(zhǔn)制備好的測(cè)試樣品,兩面用導(dǎo)電銀漿涂覆,使樣品兩面都各自導(dǎo)電,但南面之間不能導(dǎo)通,備用。

4、選擇適當(dāng)?shù)妮o助線圈插入電感接線柱。根據(jù)需要選擇振蕩器頻率,調(diào)節(jié)測(cè)試電路電容器使電路諧振。假定諧振時(shí)電容為C1,品質(zhì)因素為Q1。

5、將被測(cè)樣品接在Cx接線柱上。

6、再調(diào)節(jié)測(cè)試電路電容器使電路諧振,這時(shí)電容為C2,可以直接讀出Q2。

7、用游標(biāo)卡尺量出試樣的直徑Φ和厚度d(分別在不同位置測(cè)得兩個(gè)數(shù)據(jù),再取其平均值)。

試驗(yàn)數(shù)據(jù):

電介質(zhì)材料介電性能試驗(yàn)儀技術(shù)參數(shù)及型號(hào):

準(zhǔn)確度:   Cx:    ±(讀數(shù)×0.5%+0.5pF);

tgδ:  ±(讀數(shù)×0.5%+0.00005);

電容量范圍:  內(nèi)施高壓: 3pF60000pF/10kV   60pF1μF/0.5kV;

外施高壓: 3pF1.5μF/10kV      60pF30μF/0.5kV;

分辨率           最高0.001pF,4位有效數(shù)字;

在測(cè)試絕緣材料時(shí)可以直接顯示相對(duì)介電常數(shù)ε;

tgδ范圍:    不限,分辨率0.000001,電容、電感、電阻三種試品自動(dòng)識(shí)別;

試驗(yàn)電流范圍5μA5A;

內(nèi)施高壓: 設(shè)定電壓范圍:0.510kV

最大輸出電流:200mA;

升降壓方式:電壓隨意設(shè)置。比如5123V。

試驗(yàn)頻率: 40-70Hz單頻隨意設(shè)置。比如48.7Hz.

50±0.1Hz50±10Hz自動(dòng)雙變頻隨意設(shè)置。

60±0.1Hz60±10Hz自動(dòng)雙變頻隨意設(shè)置。

頻率精度: ±0.01Hz

外施高壓: 接線時(shí)最大試驗(yàn)電流5A,工頻或變頻40-70Hz

          外接線路時(shí)可以連接量程擴(kuò)展器,電流可達(dá)幾千安培。

測(cè)量時(shí)間: 40s,與測(cè)量方式有關(guān)

輸入電源: 180V270VAC50Hz±1%,市電或發(fā)電機(jī)供電

計(jì)算機(jī)接口:標(biāo)準(zhǔn)RS232接口,U盤(pán)插口(自動(dòng)U盤(pán)存儲(chǔ)數(shù)據(jù))。

打印機(jī):微型熱敏打印機(jī)   環(huán)境溫度:-10℃50℃   相對(duì)濕度: <90%

外形尺寸:430*330*350mm   儀器重量:28kg

   號(hào):ZJD-87

電介質(zhì)材料介電性能試驗(yàn)儀符合標(biāo)準(zhǔn):

GB/T1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法;
GB/T1693-2007
硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法;
ASTM D150-11
實(shí)心電絕緣材料的交流損耗特性和電容率(介電常數(shù))的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法;
GBT5594.4-2015
電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法;





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