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北京智德創(chuàng)新儀器設(shè)備有限公司
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北京智德創(chuàng)新儀器設(shè)備有限公司
產(chǎn)品型號ZJD-C
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地北京市
聯(lián)系方式：于夢洋查看聯(lián)系方式
更新時間：2024-02-02 06:43:29瀏覽次數(shù)：187次
聯(lián)系我時，請告知來自 智慧城市網(wǎng)介質(zhì)損耗因數(shù)試驗(yàn)儀可以用于科研機(jī)關(guān)，學(xué)校，例如一些科研院所，大專院?；蛴?jì)量測試部門的實(shí)驗(yàn)室需要用介電常數(shù)儀對絕緣材料的介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)進(jìn)行測試；北京智德創(chuàng)新檢測儀器同時也適用于工廠或單位，例如一些工廠對無機(jī)非金屬新材料性能的應(yīng)用進(jìn)行研究，另外在電力、電工、化工等領(lǐng)域，如：電廠、電業(yè)局實(shí)驗(yàn)所、變壓器廠、電容器廠、絕緣材料廠、煉油廠等單位對固體及液體絕緣材料的介質(zhì)損耗和相對介電常數(shù)ε的
介電損耗的形式
電介質(zhì)在電場作用下，內(nèi)部通過的電流包括：
〔1〕電容電流：由樣品的幾何電容充電引起電流〔位移電流〕；
〔2〕吸收電流：由松弛極化引起，是介質(zhì)在交變電壓作用下引起介質(zhì)損耗的主要來源；
〔3〕漏電電流：由介質(zhì)電導(dǎo)引起，與自由電荷有關(guān)，使介質(zhì)產(chǎn)生電導(dǎo)損耗。
電介質(zhì)在電場作用下具體損耗的能量主要包括：
⑴極化損耗：在外電場中各種介質(zhì)極化的建立引起了電流，此電流與極化松弛等有關(guān)，引起的損耗稱為極化損耗。
⑵電導(dǎo)損耗：在電場作用下，導(dǎo)電載流子做定向漂移，形成傳導(dǎo)電流，電流大小由介質(zhì)本身性質(zhì)決定，這局部傳導(dǎo)電流以熱的形式消耗掉，稱之為電導(dǎo)損耗。
⑶電離損耗和構(gòu)造損耗
介電性能的測量方法
依據(jù)所測量的根本原理可分為三大類①電橋法②諧振回路法③阻抗矢量法
電橋法：測量范圍：～150MHZ
測量原理：根據(jù)電橋平衡時兩對邊阻抗乘積相等，從而來確定被測電容器或介質(zhì)材料試樣的CX和tanX。
諧振回路法：測量范圍：40KHZ～200MHZ
測量原理：依據(jù)諧振回路的諧振特性進(jìn)展測量的。根據(jù)諧振時角頻率ω與回路的電感、電容之間的特定關(guān)系式，求得Cx和tanδX。
阻抗矢量法：測量范圍：～200MHZ
測量原理：通過矢量電壓一電流的比值的測量來確定復(fù)阻抗的，進(jìn)而獲得網(wǎng)絡(luò)、元件或材料的有關(guān)參數(shù)。
介電性能測試內(nèi)容主要包括
⑴絕緣電阻率
⑵相對介電常數(shù)
⑶介質(zhì)損耗角正切
⑷擊穿電場強(qiáng)度
絕緣電阻率測試
絕緣電阻率測試通常采用三電極系統(tǒng)，可以分別測出試樣的體積電阻率ρv和外表電阻率ρs，測量電路圖如以下圖所示。
體積電阻率測試線路圖
外表電阻測量線路圖
平板試樣
管狀試樣
電極材料可用粘貼鋁箔、導(dǎo)電橡皮、真空鍍鋁、膠體石墨等
相對介電常數(shù)〔εｒ〕測試
相對介電常數(shù)通常是通過測量試樣與電極組成的電容、試樣厚度和電極尺寸求得。
平板試樣 
管狀試樣
介質(zhì)損耗角正切〔tanδ)的測定
通過測量試樣的等效參數(shù)經(jīng)計(jì)算求得，也可在儀器上直接讀取。
工頻、音頻下一般都采用電橋法測量，高電壓時采用西林電橋法。
西林電橋法
電橋平衡時
CN→標(biāo)準(zhǔn)電容
C4→可調(diào)電容
R4→固定電阻
R3→可調(diào)電阻
當(dāng)頻率為幾十千赫到幾百兆赫范圍時，可用集總參數(shù)的諧振法進(jìn)展測量，如下圖
介質(zhì)損耗因數(shù)試驗(yàn)儀技術(shù)參數(shù)：
型號：ZJD-C
信號源：DDS數(shù)字合成信號
頻率范圍：100KHZ-160MHZ
Q分辨率：4位有效數(shù)，分辨率0.1
電感測量范圍：1nH～140mH,；分辨率0.1
信號源頻率精度： 3×10-5 ±1個字,6位有效數(shù)
Q值測量范圍： 1～1023自動/手動量程
Q值量程分檔： 30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔
信號源頻率覆蓋比：16000:1
采樣精度：12BIT
Q測量工作誤差：＜5%
電感測量誤差：＜3%
電容直接測量范圍：1pF～2.5uF
調(diào)諧電容誤差分辨率：±1pF或＜1%
主電容調(diào)節(jié)范圍：17～540pF
諧振點(diǎn)搜索：自動掃描
自身殘余電感扣除功能：有
大電容值直接顯示功能：有
介質(zhì)損耗系數(shù)精度：萬分之一
介質(zhì)損耗測試范圍：0.0001-1
介電常數(shù)測試范圍：0-1000
環(huán)境溫度：0℃～+40℃
消耗功率：約25W
LCD顯示參數(shù)：F,L,C,Q,LT,CT,波段等
Q合格預(yù)置范圍： 5～1000聲光提示
電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz
材料測試厚度： 0.1-10mm
夾具插頭間距： 25mm±0.01mm
夾具損耗正切值：≤4×10－4 （1MHz）
測微桿分辨率：0.001mm
準(zhǔn)確度：150pF以下±1pF；150pF以上±1%
測試極片：材料測量直徑Φ38mm或50mm（二選一），厚度可調(diào) ≥ 15mm
介質(zhì)損耗因數(shù)試驗(yàn)儀符合標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法；
GB/T1693-2007硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法；
ASTM D150-11實(shí)心電絕緣材料的交流損耗特性和電容率（介電常數(shù)）的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法；
GBT5594.4-2015電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測試方法；
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