TZNR-50B氧化鋅閥片測(cè)試儀 

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

    氧化鋅（ZnO）非線性電阻zinc oxide nonlinear resistor（簡(jiǎn)稱氧化鋅閥片）作為吸能與過電壓保護(hù)元件已廣泛應(yīng)用于水力、火力、與核能發(fā)電機(jī)組。目前在發(fā)電機(jī)勵(lì)磁回路中的整流橋交流側(cè)浪涌過電壓保護(hù)裝置、可控硅整流橋直流側(cè)換相尖峰過電壓吸收保護(hù)裝置、同步發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子非全相過電壓保護(hù)裝置及滅磁裝置，已大量采用氧化鋅非線性電阻。

    氧化鋅非線性電阻在工作中既要承受長(zhǎng)期的勵(lì)磁電壓，還要承受滅磁時(shí)來自轉(zhuǎn)子繞組的能量和過電壓沖擊，長(zhǎng)期的勵(lì)磁電壓作用會(huì)使ZnO閥片產(chǎn)生靜態(tài)老化，而滅磁和過電壓沖擊會(huì)使ZnO閥片產(chǎn)生動(dòng)態(tài)老化。不管是靜態(tài)老化還是動(dòng)態(tài)老化均會(huì)使ZnO閥片的晶粒結(jié)構(gòu)發(fā)生變化，造成V-A特性嚴(yán)重退化。靜態(tài)老化是一個(gè)緩慢的物理化學(xué)過程，其老化速度的快慢可以用漏電流或功率損耗的增長(zhǎng)速度來衡量。漏電流使ZnO閥片體溫升高，由于ZnO閥片具有電壓負(fù)溫度系數(shù)，其溫升與漏電流的上升及老化速度成正比關(guān)系，一旦產(chǎn)生惡性循環(huán)，ZnO閥片將發(fā)生熱擊穿短路和炸裂。而動(dòng)態(tài)老化對(duì)ZnO閥片也是一種溫度效應(yīng)。因此，氧化鋅非線性電阻性能的好壞，壽命的長(zhǎng)短，將直接關(guān)系到電力行業(yè)的安全運(yùn)行。故定期檢測(cè)ZnO閥片小電流V-A特性、檢測(cè)其漏電流增長(zhǎng)速度、預(yù)測(cè)使用壽命就顯得格外重要。

   TZNR-50B氧化鋅閥片測(cè)試儀，采用了*的高電壓升壓技術(shù)，與微機(jī)技術(shù)相結(jié)合，實(shí)現(xiàn)了對(duì)ZnO閥片智能測(cè)試，該測(cè)試儀能夠?qū)纹蚨嗥ù┻M(jìn)行高電壓、小電流的伏安特性綜合測(cè)試。TZNR-50A氧化鋅閥片測(cè)試儀輸出電壓可達(dá)2.5KV，電流分辨率可達(dá)0.5uA，測(cè)量時(shí)只需簡(jiǎn)單操作即可對(duì)ZnO閥片進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè)。該儀器經(jīng)過專家鑒定，認(rèn)為具有操作簡(jiǎn)單，精度高，抗干擾，防震，便于攜帶，無人為干擾因素等特點(diǎn)，達(dá)到了快速、準(zhǔn)確穩(wěn)定測(cè)試閥片的目的。自推出以來，得到用戶廣泛歡迎。

產(chǎn)品構(gòu)成
     主要由以下幾部分組成：電源回路、高壓發(fā)生器、放電回路、采樣隔離放大回路、A/D轉(zhuǎn)換器、D/A轉(zhuǎn)換器、CPU控制系統(tǒng)、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器、數(shù)碼顯示器、數(shù)據(jù)通信口、I/O控制口等幾部O閥片上，通過采樣電阻取得其動(dòng)態(tài)V-A特性信號(hào)，經(jīng)隔離放大，由A/D轉(zhuǎn)換電路變換成數(shù)字信號(hào)，數(shù)據(jù)經(jīng)過分析處理后，其小電流V-A特性曲線數(shù)據(jù)被完整保存，并將結(jié)果數(shù)據(jù)用LED數(shù)碼管顯示。同時(shí)通過RS232通訊口與PC機(jī)連接交換數(shù)據(jù)，完成對(duì)閥片測(cè)試數(shù)據(jù)的*保存和數(shù)據(jù)曲線的顯示與打印，自動(dòng)形成測(cè)試報(bào)告。

產(chǎn)品參數(shù)  

產(chǎn)品附件本產(chǎn)品詳細(xì)清單，請(qǐng)以說明書或代銷合同為準(zhǔn)  

注： 1.產(chǎn)品外觀以實(shí)際產(chǎn)品為準(zhǔn)，技術(shù)參數(shù)與型號(hào)如有變動(dòng)，恕不另行通知，如有盜用或復(fù)印行為，將追究法律責(zé)任。

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