超高頻電子標(biāo)簽的外觀看似簡單，其實不然，每一個電子標(biāo)簽從生產(chǎn)到出庫都需經(jīng)過很多工序，并且每個工序都必須嚴(yán)格控制，才能使成品標(biāo)簽滿足設(shè)計要求和客戶使用需求。今天和大家一起學(xué)習(xí)超高頻標(biāo)簽檢測技術(shù)環(huán)節(jié)中關(guān)于CISC RFID Xplorer軟件(CISC, VBL, SITTERA, IRIS,XMINNOV )將如何應(yīng)用呢？
1、CISC RFID Xplorer設(shè)備部件及測試環(huán)境
CISC RFID Xplorer設(shè)備的部件包含檢測天線、放置平臺、角靈敏度旋轉(zhuǎn)器、支架、被測標(biāo)簽。測試環(huán)境是專業(yè)大型RFID微波暗室。
2、標(biāo)簽的頻點靈敏度測試方法
在CISC RFID Xplorer的軟件里先導(dǎo)入跟芯片協(xié)議對應(yīng)的參數(shù)配置和標(biāo)簽要測試的頻率范圍參數(shù)。
被測標(biāo)簽要放置在距檢測天線50cm處的放置平臺上，選擇Frequency Sweep即可啟動軟件測試標(biāo)簽的性能曲線。測試結(jié)果例如圖1?？赏ㄟ^軟件中的坐標(biāo)曲線，能明確的知道該標(biāo)簽中心點在哪個頻點，且該頻點的性能是多少。
圖1
點軟件里Display Metric里的Read Range(m) 功能，就可以根據(jù)上面的性能曲線軟件自動模擬出該標(biāo)簽在各個頻點的讀取距離，例如圖2
圖2
3、標(biāo)簽的角靈敏度測試方法
角靈敏度測試方法的軟件設(shè)置參數(shù)和標(biāo)簽放置位置同頻點靈敏度測試方法一樣，然后選擇Orientation Sweep即可啟動軟件開始測試。測試結(jié)果例如圖3。從圖中可以知道標(biāo)簽在不同角度讀取時，讀取距離是不一樣的?？梢詭椭覀兏玫谋苊獠僮魅藛T貼標(biāo)時的誤操作。
圖3
結(jié)論
通過CISC RFID Xplorer軟件可以非常有效的測試出超高頻標(biāo)簽的各項性能指標(biāo)，對產(chǎn)品的質(zhì)量管控和天線的設(shè)計研發(fā)有非常大的幫助。
廈門英諾爾信息科技有限公司對產(chǎn)品的要求和把控極其嚴(yán)格，所有產(chǎn)品出庫前都會經(jīng)過嚴(yán)格的質(zhì)量檢測，除了應(yīng)用CISC RFID Xplorer軟件檢測外還配合性能檢測設(shè)備，以此來保障超高頻電子標(biāo)簽性能及質(zhì)量，真正做到滿足客戶需求。
依靠不斷創(chuàng)新，英諾爾已成為國內(nèi)為數(shù)不多的擁有 “一站式”電子標(biāo)簽解決方案能力的物聯(lián)網(wǎng)企業(yè)，從標(biāo)簽選型、天線設(shè)計、天線制造、芯片封裝、二次復(fù)合、模切成型、個性化打碼、性能檢驗及數(shù)據(jù)初始化等實現(xiàn)“一站式”服務(wù)，已為國內(nèi)外眾多的系統(tǒng)解決方案商提供*的產(chǎn)品與服務(wù)。
