光模塊功能失效分為發(fā)射端失效和接收端失效，分析具體原因，常出現(xiàn)的問題集中在以下幾個方面：
1. 光口污染和損傷
由于光接口的污染和損傷引起光鏈路損耗變大，導(dǎo)致光鏈路不通。產(chǎn)生的原因有：
A. 光模塊光口暴露在環(huán)境中，光口有灰塵進(jìn)入而污染；
B. 使用的光纖連接器端面已經(jīng)污染，光模塊光口二次污染；
C. 帶尾纖的光接頭端面使用不當(dāng)，端面劃傷等；
D. 使用劣質(zhì)的光纖連接器；
2. ESD損傷
ESD是ElectroStatic Discharge縮寫即'靜電放電，是一個上升時間可以小于1ns(10億分之一秒)甚至幾百ps(1ps=10000億分之一秒)的非?？斓倪^程，ESD可以產(chǎn)生幾十Kv/m甚至更大的強(qiáng)電磁脈沖。靜電會吸附灰塵，改變線路間的阻抗，影響產(chǎn)品的功能與壽命； ESD的瞬間電場或電流產(chǎn)生的熱，使元件受傷，短期仍能工作但壽命受到影響；甚至破壞元件的絕緣或?qū)w，使元件不能工作(*破壞)。ESD是不可避免，除了提高電子元器件的抗ESD能力，重要的是正確使用，引起ESD損傷的因素有：
1.環(huán)境干燥，易產(chǎn)生ESD；
2.不正常的操作，如：非熱插拔光模塊帶電操作；不做靜電防護(hù)直接用手接觸光模塊靜電敏感的管腳；運(yùn)輸和存放過程中沒有防靜電包裝；
3.設(shè)備沒有接地或者接地不良。
光收發(fā)一體光模塊應(yīng)用注意點(diǎn)
1. 光口問題
光鏈路上各處的損耗衰減都關(guān)系到傳輸?shù)男阅埽虼艘螅?/div>
A. 選擇符合入網(wǎng)標(biāo)準(zhǔn)的光纖連接器；
B. 光纖連接器要有封帽，不使用時蓋上封帽，避免光纖連接器污染而二次污染光模塊光口；封帽不使用時應(yīng)放在防塵干凈處保存；
C. 光纖連接器插入是水平對準(zhǔn)光口，避免端面和套筒劃傷；
D. 光模塊光口避免長時間暴露，不使用時加蓋光口塞；光口塞不使用時儲存在防塵干凈處；
E. 光纖連接器的端面保持清潔，避免劃傷；
2. ESD 損傷
ESD是自然界不可避免的現(xiàn)象，預(yù)防ESD從防止電荷積聚和讓電荷快速放電兩方面著手：
A. 保持環(huán)境的濕度30～75%RH；
B. 對光模塊操作時做靜電防護(hù)工作(如：帶靜電環(huán)或?qū)⑹滞ㄟ^預(yù)先接觸機(jī)殼等手段釋放靜電)，接觸光模塊殼體，避免接觸光模塊PIN 腳；
C. 使用的相關(guān)設(shè)備采用并聯(lián)接地的公共接地點(diǎn)接地，保證接地路徑短，接地回路小，不能串聯(lián)接地，應(yīng)避免采用外接電纜連接接地回路的設(shè)計(jì)方式；
D. 包裝和周轉(zhuǎn)的時候，采用防靜電包裝和防靜電周轉(zhuǎn)箱/車；
E. 禁止對非熱插拔的設(shè)備，進(jìn)行帶電插拔的操作；
F. 避免用萬用表表筆直接檢測靜電敏感的管腳；
簡易光模塊失效判斷步驟
1. 測試光功率是否在指標(biāo)要求范圍之內(nèi)，如果出現(xiàn)無光或者光功率小的現(xiàn)象。處理方法：
A. 檢查光功率選擇的波長和測量單位(dBm)。
B. 清潔光纖連接器端面，光模塊光口。
C. 檢查光纖連接器端面是否發(fā)黑和劃傷，光纖連接器是否存在折斷，更換光纖連接器做互換性試驗(yàn)
D. 檢查光纖連接器是否存在小的彎折。
E. 熱插拔光模塊可以重新插拔測試。
F. 同一端口更換光模塊或者同一光模塊更換端口測試。
2. 光功率正常但是鏈路無法通，檢查link燈。
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