介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀是依據(jù)國標(biāo)GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標(biāo)ASTM D150以及國際電工委員會IEC60250的規(guī)定設(shè)計制作，并符合JB 7770等試驗方法。

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀的創(chuàng)新設(shè)計，無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了的解決方案，它給從事高頻電子設(shè)計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測工具，測量值更為精確，測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調(diào)諧電容值下檢測器件的品質(zhì)，無須關(guān)注量程和換算單位。

      介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內(nèi)的160MHz。采用了多項技術(shù)：

1.   雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能。

2.   雙測試要素輸入 - 測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。

3.   雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。

4.   自動化測量技術(shù) -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。

5.   全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。

6.   DDS 數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。

7.   計算機自動修正技術(shù)和測試回路化 —使測試回路 殘余電感減至， Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。  

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀技術(shù)參數(shù)

Q 值測量范圍：  2～1023 ， 量程分檔： 30、100、300、1000，自動換檔或手動換檔

固有誤差≤5％±滿度值的2 ％（200kHz～10MHz），≤6％±滿度值的2％（10MHz～160MHz）

工作誤差≤7％±滿度值的2％（200kHz～10MHz），≤8％±滿度值的2％（10MHz～160MHz）

電感測量范圍：    4.5nH ～ 140mH 

電容直接測量范圍：1 ～ 200pF 

主電容調(diào)節(jié)范圍： 18 ～ 220pF 

主電容調(diào)節(jié)準(zhǔn)確度：120pF以下±1.2pF ； 120pF以上±1％

信號源頻率覆蓋范圍： 100kHz～160MHz 

頻率分段（虛擬）： 100～999.999kHz ， 1～9.99999MHz,10～99.9999MHz， 100～160MHz 

頻率指示誤差：  3×10-5±1個字 

測試夾具參數(shù)：

平板電容器： 極片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可選  
極片間距可調(diào)范圍：≥15mm 
2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm 
3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 （1MHz） 
4．測微桿分辨率：0.001mm

電感組參數(shù)：

線圈號    測試頻率          Q值      分布電容p       電感值  
  9        100KHz            98      9.4              25mH
  8        400KHz           138     11.4             4.87mH
  7        400KHz           202       16             0.99mH
  6        1MHz             196       13              252μH
  5        2MHz             198       8.7            49.8μH
  4        4.5MHz           231        7              10μH 
  3        12MHz             193      6.9            2.49μH
  2        12MHz             229      6.4            0.508μH
  1    25MHz，50MHz     233，211     0.9          0.125μH

相關(guān)介紹

介電常數(shù)又稱電容率或相對電容率，是表征電介質(zhì)或絕緣材料電性能的一個重要數(shù)據(jù)，常用ε表示。 介質(zhì)在外加電場時會產(chǎn)生感應(yīng)電荷而削弱電場，原外加電場(真空中)與最終介質(zhì)中電場比值即為介電常數(shù)。其表示電介質(zhì)在電場中貯存靜電能的相對能力，例如一個電容板中充入介電常數(shù)為ε的物質(zhì)后可使其電容變大ε倍。介電常數(shù)愈小絕緣性愈好。如果有高介電常數(shù)的材料放在電場中，場的強度會在電介質(zhì)內(nèi)有可觀的下降。介電常數(shù)還用來表示介質(zhì)的極化程度，宏觀的介電常數(shù)的大小，反應(yīng)了微觀的極化現(xiàn)象的強弱。氣體電介質(zhì)的極化現(xiàn)象比較弱，各種氣體的相對介電常數(shù)都接近1，液體、固體的介電常數(shù)則各不相同，而且介電常數(shù)還與溫度、電源頻率有關(guān)。

一些物質(zhì)介電常數(shù)具有復(fù)數(shù)形式，其實部即為介電常數(shù)，虛數(shù)部分常稱為耗散因數(shù)。

通常將耗散因數(shù)與介電常數(shù)之比稱作耗散角正切，其可表示材料與微波的耦合能力，耗散角正切值越大，材料與微波的耦合能力就越強。例如當(dāng)電磁波穿過電解質(zhì)時，波的速度被減小，波長也變短了。

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀適用于科研單學(xué)、學(xué)校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。

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