藍(lán)寶石測(cè)厚儀
高精度電容位移傳感器用于藍(lán)寶石測(cè)厚，藍(lán)寶石測(cè)厚儀，藍(lán)寶石厚度測(cè)量，非金屬材料測(cè)厚，薄膜測(cè)厚，薄膜測(cè)厚儀等等，詳情請(qǐng)參考附件文檔資料。
大多數(shù)絕緣材料的非接觸測(cè)厚
使用MTI電容放大器和電容探針實(shí)現(xiàn)薄的非導(dǎo)電材料（如玻璃、藍(lán)寶石、塑料和其他聚合物）的精確厚度測(cè)量。
電容傳感器以其精確測(cè)量導(dǎo)電目標(biāo)厚度和位置的能力而聞名。
然而，電容傳感器還可以測(cè)量非導(dǎo)電材料（如藍(lán)寶石、玻璃、泡沫、許多塑料，甚至半絕緣半導(dǎo)體材料（如砷化鎵和氮化硅）的厚度卻鮮為人知。
用老式的模擬電容探頭和放大器測(cè)量厚度是可能的，但在處理未校準(zhǔn)的模擬信號(hào)時(shí)是困難的。
現(xiàn)在有更好的辦法了。
MTI的數(shù)字Accumeasure系統(tǒng)的內(nèi)置測(cè)量和計(jì)算能力可以在執(zhí)行簡(jiǎn)單的校準(zhǔn)程序后測(cè)量和數(shù)字計(jì)算非導(dǎo)電目標(biāo)的厚度。Accumeasure放大器和計(jì)算機(jī)對(duì)目標(biāo)材料的介電常數(shù)和總間隙進(jìn)行補(bǔ)償。
MTI的電容探頭發(fā)出一個(gè)電場(chǎng)，電場(chǎng)穿過絕緣材料，絕緣材料的介電常數(shù)改變了電場(chǎng)。為了使電容系統(tǒng)測(cè)量厚度，它必須通過對(duì)被測(cè)材料進(jìn)行校準(zhǔn)來考慮不同的介電常數(shù)。只要材料的介電常數(shù)不變，校準(zhǔn)將保持一致，甚至可以測(cè)量非導(dǎo)電板或移動(dòng)的非導(dǎo)電目標(biāo)，以進(jìn)行過程控制。
為獲得效果，地面目標(biāo)區(qū)域應(yīng)為圓形，直徑應(yīng)與探頭相同。與探頭直徑大致相同的方形接地回路也適用。一個(gè)相當(dāng)于探針大小許多倍的大接地板也會(huì)使精度略有下降。在進(jìn)行厚度測(cè)量時(shí)，透明塑料或玻璃材料的非接觸測(cè)量很難或不可能用激光三角測(cè)量傳感器進(jìn)行測(cè)量。數(shù)字Accumeasure是進(jìn)行這些厚度測(cè)量的合適方法，因?yàn)樵诖蠖鄶?shù)情況下，透明玻璃和塑料不能提供足夠的反射，使激光三角測(cè)量傳感器在漫反射模式下工作。大部分的激光能量直接穿過清晰的目標(biāo)。如果使用鏡面反射激光頭，可以獲得位移讀數(shù)，但很多時(shí)候這是不可取的，因?yàn)榧す夤獍邥?huì)根據(jù)距離改變位置。
此外，如果與外部厚度傳感器結(jié)合使用，MTI的數(shù)字Accumeasure可用于計(jì)算/監(jiān)測(cè)非導(dǎo)電材料的密度。如果您有相關(guān)需求
