高低頻介電常數(shù)測(cè)試儀
GCSTD-D
一、滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)：
GBT 1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(zhǎng)在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法
GB/T1693-2007 硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法
ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久電介質(zhì))的交流損耗特性和介電常數(shù)的測(cè)試方法
二、技術(shù)要求：
接觸法：適用于厚度均勻、上下表面平整、光滑材料
電類(lèi)型：固定電-測(cè)量電φ38mm
測(cè)試頻率：20HZ-2MHZ
測(cè)試電：黃銅電
測(cè)試環(huán)境：室溫
三、軟件功能：
* 1、測(cè)試頻率可以?huà)呙柽M(jìn)行測(cè)試
*2、測(cè)試頻率可以單點(diǎn)測(cè)試
*3、測(cè)試頻率可以多頻設(shè)置測(cè)試
4、測(cè)試速度模式：快速、中速、慢速
5、測(cè)試數(shù)據(jù)與曲線(xiàn)顯示：
*6、電阻率—測(cè)試頻率
*7、jue對(duì)介電常數(shù)--測(cè)試頻率
*8、相對(duì)介電常數(shù)--測(cè)試頻率
*9、相對(duì)介電常數(shù)虛部--測(cè)試頻率
*10、相對(duì)介電常數(shù)實(shí)部--測(cè)試頻率
*11、介質(zhì)損耗--測(cè)試頻率
*12、電容值--測(cè)試頻率
四、隨機(jī)配置
1、主機(jī)：1臺(tái)
2、測(cè)試電：1套
3、數(shù)據(jù)線(xiàn)：1套
4、電源線(xiàn)：1根
5、合格證：一份
6、測(cè)試系統(tǒng)：一套
五 、測(cè)試電橋參數(shù)
| 測(cè)試參數(shù) | C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR | |
| 測(cè)試頻率 |
| 20 Hz～2MHz,10mHz步進(jìn) |
| 測(cè)試信號(hào)電 | f≤1MHz | 10mV～5V,±（10%+10mV） |
| 平 | f>1MHz | 10mV～1V,±（20%+10mV) |
| 輸出阻抗 | 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω | |
| 基本zhun確度 | 0.1% | |
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| L | 0.0001 uH ～ 9.9999kH |
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| C | 0.0001 pF ～ 9.9999F |
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| R,X,Z,DCR | 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ |
| 顯示范圍 | Y, B, G | 0.0001 nS ～ 99.999 S |
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| D | 0.0001 ～ 9.9999 |
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| Q | 0.0001 ～ 99999 |
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| θ | -179.99°～ 179.99° |
| 測(cè)量速度 | 快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz） 中速: 25次/s, 慢速: 5次/s | |
| 校準(zhǔn)功能 | 開(kāi)路 / 短路點(diǎn)頻、掃頻清零，負(fù)載校準(zhǔn) | |
| 等效方式 | 串聯(lián)方式, 并聯(lián)方式 | |
| 量程方式 | 自動(dòng), 保持 | |
| 顯示方式 | 直讀, Δ, Δ% | |
| 觸發(fā)方式 | 內(nèi)部, 手動(dòng), 外部, 總線(xiàn) | |
| 內(nèi)部直流偏 | 電壓模式 | -5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進(jìn) |
| 置源 | 電流模式（內(nèi)阻為50Ω） | -100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進(jìn) |
| 比較器功能 | 10檔分選及計(jì)數(shù)功能 | |
| 顯示器 | 320×240點(diǎn)陣圖形LCD顯示 | |
| 存儲(chǔ)器 | 可保存20組儀器設(shè)定值 | |
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| USB DEVICE( USBTMC ａnd USBCDC support) | |
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| USB HOST(FAT16 ａnd FAT32 support) | |
| 接口 | LAN(LXI class C support) | |
| RS232C | ||
| HANDLER | ||
| GPIB（選件） | ||
